ポメランツ イリス | School of Electrical and Computer Engineering, Purdue University

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概要

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• 同名の論文著者
• School of Electrical and Computer Engineering, Purdue Universityの論文著者

関連著者

• 梶原 誠司

  九州工業大学情報工学部電子情報工学科

• ポメランツ イリス

  School of Electrical and Computer Engineering, Purdue University

• 梶原 誠司

  九州工業大学:jst Crest

• ポメランツ イリス

  School Of Electrical And Computer Engineering Purdue University

• 梶原 誠司

  九州工業大学

• レディ スダーカ

  アイオワ大学

• ポメランツ イリス

  アイオワ大学電気コンピュータ学科

• レディ スダーカ

  アイオワ大学 電気コンピュータ学科

• スダーカ M.レディ

  アイオワ大学電気コンピュータ学科

• 村上 敦

  九州工業大学 情報工学部 電子情報工学科

• 谷口 謙二郎

  九州工業大学情報工学部電子情報工学科

• レディー スダカー

  Electrical and Computer Engineering Department, University of Iowa

• レディー スダカー

  Electrical And Computer Engineering Department University Of Iowa

• 谷口 謙二郎

  九州工業大学大学院情報工学研究科

• 笹尾 勤

  九州工業大学情報工学部

• 宮瀬 紘平

  九州工業大学

• 宮瀬 紘平

  九州工業大学:jst Crest

• 笹尾 勤

  九州工業大学 情報工学部 マイクロ化総合技術センター

• 笹尾 勤

  九州工業大学 大学院 情報工学府 情報創成工学専攻

• レディ スダーカ

  Electrical and Computer Engineering Department, University of Iowa

• レディ スダーカ

  アイオワ大学電気コンピュータ学科

• 樹下 行三

  大阪学院大 情報

• 竹岡 貞巳

  松下電器産業株式会社半導体社開発本部システムLSI技術統括部

• 太田 光保

  松下電器産業株式会社半導体開発本部

• ポメランツ イリス

  パドゥ大学 電気コンピュータ工学科

• レディー スダーカ・M.

  アイオワ大学 電気コンピュータ工学科

• 樹下 行三

  大阪大学 大学院工学研究科

• 樹下 行三

  大阪大学工学部応用物理学科

• 竹岡 貞巳

  松下電器産業株式会社 半導体開発本部

• ポメランツ イリス

  電気コンピュータ工学科, パデュー大学

• レディ スダーカ

  電気コンピュータ工学科, アイオワ大学

• 樹下 行三

  大阪大学工学部

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著作論文

• 符号化技術を用いた多重スキャン設計のテストデータ量削減について
• 符号化技術を用いた多重スキャン設計のテストデータ量削減について
• ドントケア判定と符号化によるテストデータ圧縮について
• ショーパスディレイ : 故障モデルとテスト生成
• パス遅延故障におけるパス選択とテスト生成について
• パス遅延故障におけるパス選択とテスト生成について
• パス遅延故障におけるパス選択とテスト生成について
• ドントケア判定と符号化によるテストデータ圧縮について
• トランジション故障に対するテストパターンの極小化手法について
• トランジション故障に対するテストパターンの極小化手法について
• LC-3 テストパターン中の特定ビットにおけるドントケア判定法について(C. アーキテクチャ・ハードウェア)
• 論理回路における遅延テスト不要パスの高速導出法 (テストと設計検証論文特集)
• パス遅延故障のテストのためのロバスト依存パスの識別法

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