ポメランツ イリス | School Of Electrical And Computer Engineering Purdue University
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概要
関連著者
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梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科
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ポメランツ イリス
School of Electrical and Computer Engineering, Purdue University
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梶原 誠司
九州工業大学:jst Crest
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ポメランツ イリス
School Of Electrical And Computer Engineering Purdue University
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梶原 誠司
九州工業大学
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レディ スダーカ
アイオワ大学
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ポメランツ イリス
アイオワ大学電気コンピュータ学科
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レディ スダーカ
アイオワ大学 電気コンピュータ学科
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スダーカ M.レディ
アイオワ大学電気コンピュータ学科
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村上 敦
九州工業大学 情報工学部 電子情報工学科
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谷口 謙二郎
九州工業大学情報工学部電子情報工学科
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レディー スダカー
Electrical and Computer Engineering Department, University of Iowa
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レディー スダカー
Electrical And Computer Engineering Department University Of Iowa
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谷口 謙二郎
九州工業大学大学院情報工学研究科
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笹尾 勤
九州工業大学情報工学部
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宮瀬 紘平
九州工業大学
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宮瀬 紘平
九州工業大学:jst Crest
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笹尾 勤
九州工業大学 情報工学部 マイクロ化総合技術センター
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笹尾 勤
九州工業大学 大学院 情報工学府 情報創成工学専攻
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レディ スダーカ
Electrical and Computer Engineering Department, University of Iowa
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レディ スダーカ
アイオワ大学電気コンピュータ学科
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樹下 行三
大阪学院大 情報
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竹岡 貞巳
松下電器産業株式会社半導体社開発本部システムLSI技術統括部
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太田 光保
松下電器産業株式会社半導体開発本部
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ポメランツ イリス
パドゥ大学 電気コンピュータ工学科
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レディー スダーカ・M.
アイオワ大学 電気コンピュータ工学科
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樹下 行三
大阪大学 大学院工学研究科
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樹下 行三
大阪大学工学部応用物理学科
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竹岡 貞巳
松下電器産業株式会社 半導体開発本部
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ポメランツ イリス
電気コンピュータ工学科, パデュー大学
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レディ スダーカ
電気コンピュータ工学科, アイオワ大学
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樹下 行三
大阪大学工学部
著作論文
- 符号化技術を用いた多重スキャン設計のテストデータ量削減について
- 符号化技術を用いた多重スキャン設計のテストデータ量削減について
- ドントケア判定と符号化によるテストデータ圧縮について
- ショーパスディレイ : 故障モデルとテスト生成
- パス遅延故障におけるパス選択とテスト生成について
- パス遅延故障におけるパス選択とテスト生成について
- パス遅延故障におけるパス選択とテスト生成について
- ドントケア判定と符号化によるテストデータ圧縮について
- トランジション故障に対するテストパターンの極小化手法について
- トランジション故障に対するテストパターンの極小化手法について
- LC-3 テストパターン中の特定ビットにおけるドントケア判定法について(C. アーキテクチャ・ハードウェア)
- 論理回路における遅延テスト不要パスの高速導出法 (テストと設計検証論文特集)
- パス遅延故障のテストのためのロバスト依存パスの識別法