梶原 誠司 | 九州工業大学情報工学部電子情報工学科

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概要

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• 同名の論文著者
• 九州工業大学情報工学部電子情報工学科の論文著者

関連著者

• 梶原 誠司

  九州工業大学情報工学部電子情報工学科

• 梶原 誠司

  九州工業大学:jst Crest

• 梶原 誠司

  九州工業大学

• 温 暁青

  九州工業大学

• 宮瀬 紘平

  九州工業大学:jst Crest

• 宮瀬 紘平

  九州工業大学

• Kajihara S

  Kyushu Inst. Technol. Iizuka‐shi Jpn

• 宮瀬 絋平

  九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系:独立行政法人科学技術振興機構crest

• 梶原 誠司

  九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化総合技術センタ

• 梶原 誠司

  九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化システムセンター

• レディ スダーカ

  アイオワ大学

• 温 暁青

  九州工業大学:jst Crest

• Kajihara Seiji

  Faculty Of Computer Science And Systems Engineering Kyushu Institute Of Technology

• 大和 勇太

  九州工業大学大学院情報工学研究院

• ポメランツ イリス

  School of Electrical and Computer Engineering, Purdue University

• ポメランツ イリス

  School Of Electrical And Computer Engineering Purdue University

• 宮瀬 紘平

  科学技術振興機構

• 佐藤 康夫

  九州工業大学:jst Crest

• 谷口 謙二郎

  九州工業大学情報工学部電子情報工学科

• Li Lei

  デューク大学

• Chakrabarty K

  デューク大学

• 谷口 謙二郎

  九州工業大学大学院情報工学研究科

• Chakrabarty Krishnendu

  デューク大学

• 土井 康稔

  九州工業大学

• Li L

  Graduate Univ. For Advanced Studies Tokyo Jpn

• レディ スダーカ

  アイオワ大学 電気コンピュータ学科

• スダーカ M.レディ

  アイオワ大学電気コンピュータ学科

• 樹下 行三

  大阪学院大 情報

• 佐藤 康夫

  九州工業大学

• 鈴木 達也

  九州工業大学情報工学部

• ポメランツ イリス

  アイオワ大学電気コンピュータ学科

• 村上 敦

  九州工業大学 情報工学部 電子情報工学科

• 永山 忍

  広島市立大学大学院情報科学研究科

• 古川 寛

  九州工業大学大学院情報工学研究院

• 永山 忍

  九州工業大学

• 笹尾 勤

  九州工業大学情報工学部

• 笹尾 勤

  九州工業大学 情報工学部 マイクロ化総合技術センター

• 笹尾 勤

  九州工業大学 大学院 情報工学府 情報創成工学専攻

• 樋上 喜信

  愛媛大学工学部情報工学科

• 高松 雄三

  愛媛大学工学部情報工学科

• 高松 雄三

  愛媛大学

• 三浦 幸也

  首都大学東京

• 猿渡 慶太郎

  九州工業大学情報工学部電子情報工学科

• 樋上 喜信

  愛媛大学大学院

• レディー スダカー

  Electrical and Computer Engineering Department, University of Iowa

• レディー スダカー

  Electrical And Computer Engineering Department University Of Iowa

• 皆本 義弘

  科学技術振興機構

• 浜田 周治

  株式会社半導体理工学センター

• 福永 昌勉

  株式会社半導体理工学センター

• 高松 雄三

  愛媛大学工学部

• 前田 敏行

  株式会社半導体理工学センター

• 三浦 幸也

  首都大学東京システムデザイン学部

• 三浦 幸也

  首都大学東京システムデザイン学部情報通信システム工学コース:独立行政法人科学技術振興機構crest

• 岩崎 一彦

  東京都立大学大学院工学研究科

• 福本 聡

  東京都立大学大学院工学研究科

• 小林 真也

  愛媛大学工学部

• 小林 真也

  愛媛大学 工学部

• 小林 真也

  愛媛大学大学院理工学研究科

• 市原 英行

  広島市立大学情報科学部

• 宮崎 慎二

  九州工業大学情報工学部電子情報工学科

• 竹岡 貞巳

  松下電器産業株式会社半導体社開発本部システムLSI技術統括部

• 市野 憲一

  東京都立大学

• 斎藤 貴之

  東京都立大学工学研究科電気工学専攻

• 浅川 毅

  東海大学

• 塔ノ上 義章

  九州工業大学情報工学部

• 高嶋 敦之

  九州工業大学大学院情報工学研究院

• 福澤 友晶

  九州工業大学情報工学部

• 樹下 行三

  大阪大学工学部応用物理学科

• 浅川 毅

  東京都立大学工学研究科電気工学専攻

• 市野 憲一

  東京都立大学大学院工学研究科

• 樹下 行三

  大阪大学工学部

• 松永 裕介

  九州大学大学院システム情報科学研究院

• 吉村 正義

  九州大学大学院システム情報科学研究院

• 中村 優介

  パナソニックCCソフト株式会社

• 野田 光政

  九州工業大学大学院情報工学府

• 宮瀬 鉱平

  九州工業大学大学院情報工学研究院

• レディ スダーカ

  Electrical and Computer Engineering Department, University of Iowa

• 森島 翔平

  九州工業大学

• 樹下 行三

  大阪大学 大学院工学研究科

• 樹下 行三

  大阪大学大学院工学研究科応用物理専攻

• レディ スダーカ

  アイオワ大学電気コンピュータ学科

• 吉村 正義

  福岡知的クラスター研究所

• 竹岡 貞巳

  松下電器産業株式会社 半導体開発本部

• 竹岡 真巳

  松下電器産業株式会社半導体社

• 松永 裕介

  九州大学 大学院システム情報科学研究院 情報工学部門

• 福永 昌勉

  九州工業大学大学院情報工学研究科

• 山口 久登

  九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻

• 松薗 誠

  九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻

• 佐藤 康夫

  (株)半導体理工学研究センター

• 浜田 周治

  (株)半導体理工学研究センター

• 前田 敏行

  (株)半導体理工学研究センター

• 高取 厚夫

  (株)半導体理工学研究センター

• 佐藤 康夫

  株式会社半導体理工学センター

• 山口 久登

  九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻:独立行政法人科学技術振興機構crest

• 松薗 誠

  九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻:独立行政法人科学技術振興機構crest

• 山口 久登

  九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構crest

• 松薗 誠

  九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構crest

• 松薗 誠

  九州工業大学

• 山口 久登

  九州工業大学

• 畠山 一実

  (株)半導体理工学研究センター

• 相京 隆

  (株)半導体理工学研究センター

• 沼 昌宏

  神戸大学工学研究科

• 玉本 英夫

  秋田大学工学資源学部情報工学科

• 藤原 秀雄

  奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科

• 樋上 喜信

  大阪大学 大学院工学研究科

• 奥 慎治

  九州工業大学

• 市原 英行

  広島市立大学大学院情報科学研究科

• 藤原 秀雄

  奈良先端科学技術大学院大学:独立行政法人科学技術振興機構

• 山本 真裕

  九州工業大学

• 吉村 慎一

  松下電器産業株式会社半導体社開発本部システムlsi技術統括部

• 相京 隆

  半導体理工学研究セ

• 相京 隆

  株式会社半導体理工学研究センター

• 福永 昌勉

  明治大学理工学部情報科学科

• 原口 雅史

  九州工業大学大学院情報工学研究院

• 畠山 一実

  株式会社半導体理工学研究センター

• 太田 光保

  松下電器産業株式会社半導体開発本部

• 中村 優介

  九州工業大学大学院情報工学研究科

• サルージャ K.

  ウィスコンシン大学マディソン校

• 藤井 秀雄

  九州工業大学大学院情報工学研究科

• ポメランツ イリス

  パドゥ大学 電気コンピュータ工学科

• レディー スダーカ・M.

  アイオワ大学 電気コンピュータ工学科

• レデイ スダーカ

  アイオワ大学電気コンピュータ学科

• 別府 厳

  九州工業大学大学院情報工学府

• イリス ポメランツ

  School of Electrical and Computer Engineering, Purdue University

• スカーダ レディ

  Electrical and Computer Engineering Department, University of Iowa

• 別府 巌

  九州工業大学大学院情報工学府

• 樹下 行三

  大阪学院大学情報学部

• 奥 慎治

  九州工業大学:jst Crest

• 梶原 誠司

  九州工業大学大学院情報工学研究科:九州工業大学マイクロ化総合技術センタ

• イリス ポメランツ

  アイオワ大学電気コンピュータ学科

• イリス ポメランツ

  School Of Electrical And Computer Engineering Purdue University

• レディ スダｰカ

  アイオワ大学

• 宮瀬 紘平

  Kyushu Institute of Technology

• レディ スダーガ

  アイオワ大学

• ポメランツ イリス

  電気コンピュータ工学科, パデュー大学

• レディ スダーカ

  電気コンピュータ工学科, アイオワ大学

• サルージャ ケーワルk.

  Department Of Electrical And Computer Engineering University Of Wisconsin - Madison

• Saluja Kewal

  Univ. Wisconsin‐madison Usa

• Saluja Kewal

  ウィスコンシン大学

• Saluja Kewal

  ウィスコンシン大学マディソン校

• Saluja Kewal

  Univ. Of Wisconsin-madison Dept. Of Electrical And Computer Engineering

• サルージャ ケワール

  ウィスコンシン大学

• 梶原 誠司

  九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構

• 石田 亘司

  九州工業大学大学院情報工学研究科

• 吉川 篤志

  大阪大学工学研究科応用物理専攻

• 梶原 誠司

  九州工業大学マイクロ化システムセンター

• スカーダ レディ

  Electrical And Computer Engineering Department University Of Iowa

• Saluja Kewal

  ウイスコンシン大学

• 野津山 泰行

  (株)半導体理工学研究センター

• 詫間 茜

  九州工業大学

• 高取 厚夫

  株式会社半導体理工学研究センター

• BAIK Dong

  Univ. of Wisconsin-Madison, Dept. of Electrical and Computer Engineering

• 四柳 浩之

  大阪大学大学院工学研究科応用物理学専攻

• 市原 英行

  大阪大学大学院工学研究科応用物理学専攻

• 市原 英行

  大阪大学工学研究科応用物理学専攻

• 野上 貴一郎

  九州工業大学情報工学部電子情報工学科

• Baik Dong

  Univ. Of Wisconsin-madison Dept. Of Electrical And Computer Engineering

• 四柳 浩之

  徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部

• 原口 雅史

  九州工業大学大学院 情報工学研究院

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著作論文

• 順序回路に対するテスト系列中のドントケア値発見とテスト圧縮・消費電力削減への応用について(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
• 順序回路に対するテスト系列中のドントケア値発見とテスト圧縮・消費電力削減への応用について
• 部分X分解によるX故障モデルを用いた故障診断手法の高速化(故障モデル・故障許容・故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
• 3値テストパターンに対する遅延テスト品質計算とX割当について(遅延故障テスト,VLSI設計とテスト及び一般)
• ディレイテストにおけるパス選択基準とテストクオリティの評価
• 劣化検知テストにおけるパス選択について(テストII,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地)
• 劣化検知テストにおけるパス選択について(テストII,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地-)
• AI-1-7 フィールド高信頼化のための回路・システム機構(AI-1.デイベンダブルVLSIに向けて,依頼シンポジウム,ソサイエティ企画)
• 論理回路の動作環境とトランジスタの劣化特性について(設計/テスト/検証)
• 順序回路用故障シミュレーションにおけるコンパイル方式の適用と効果について(セッション2 : 故障シミュレーションと故障診断, VLSI設計とテスト及び一般)
• ブロードサイドテストにおけるN回検出用テストパターンに対するX判定(デザインガアイ2006-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
• ブロードサイドテストにおけるN回検出用テストパターンに対するX判定(VLSIのテストI,デザインガイア2006-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
• ブロードサイドテストにおけるN回検出用テストパターンに対するX判定(VLSIのテストI,デザインガイア2006-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
• 符号化技術を用いた多重スキャン設計のテストデータ量削減について
• 符号化技術を用いた多重スキャン設計のテストデータ量削減について
• ドントケア判定と符号化によるテストデータ圧縮について
• 二重検出法に基づく故障シミュレーションの高速化について
• 二重検出法に基づく故障シミュレーションの高速化について
• 二重検出法に基づく故障シミュレーションの高速化について
• テスト生成における間接含意の効率的な生成方法(テスト,システム設計及び一般)
• テスト生成における間接含意の効率的な生成方法(テスト,システム設計及び一般)
• LSI回路のX故障によるPer-Test故障診断手法の拡張について(LSIの評価・診断・解析及び,品質)
• 低消費電力テストのための制約付テスト生成手法について(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)
• 低消費電力テストのための制約付テスト生成手法について(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)
• 低消費電力テストのための制約付テスト生成手法について
• スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力化に効果的なテスト集合変更について(VLSIの設計/検証/テスト及び一般(デザインガイア))
• スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力化に効果的なテスト集合変更について(VLSIの設計/検証/テスト及び一般(デザインガイア))
• スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力化に効果的なテスト集合変更について(VLSIの設計/検証/テスト及び一般(デザインガイア))
• スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力化に効果的なテスト集合変更について(VLSIの設計/検証/テスト及び一般(デザインガイア))
• スキャンBISTにおけるマルチサイクルテストと部分観測方式の提案と評価(テスト設計1,デザインガイア2010-VLSI設計の新しい大地-)
• スキャンBISTにおけるマルチサイクルテストと部分観測方式の提案と評価(テスト設計1,デザインガイア2010-VLSI設計の新しい大地-)
• 順序回路に対するテスト系列中のドントケア値発見とテスト圧縮・消費電力削減への応用について(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
• ショーパスディレイ : 故障モデルとテスト生成
• パス遅延故障におけるパス選択とテスト生成について
• パス遅延故障におけるパス選択とテスト生成について
• パス遅延故障におけるパス選択とテスト生成について
• パス遅延故障のテストにおけるパス選択手法について
• パス遅延故障のテストにおけるパス選択手法について
• 統計的遅延品質モデル(SDQM)のフィージビリティ評価(評価モデル,ディペンダブルコンピューティング論文)
• ブロードサイド方式におけるパス長を考慮した遷移故障用テストパターン生成について(欠陥ベーステスト,VLSI設計とテスト及び一般)
• ディレイ品質を予測する統計的品質モデル(非縮退故障モデルテスト, VLSI 設計とテスト及び一般)
• 超微細 LSI のパス遅延故障に対するテスト圧縮法について(非縮退故障モデルテスト, VLSI 設計とテスト及び一般)
• 信号値遷移削減のためのドントケア判定率の最適化に関する研究(テストI,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地-)
• 実速度スキャンテストにおけるキャプチャセーフテスト生成手法について(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
• 実速度スキャンテストにおけるキャプチャセーフテスト生成手法について(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
• 実速度スキャンテストにおけるキャプチャセーフテスト生成手法について(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地-)
• 実速度スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力テスト生成手法について(テストと検証,デザインガイア2007-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
• 実速度スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力テスト生成手法について(テストと検証,デザインガイア2007-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
• 実速度スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力テスト生成手法について(テストと検証,デザインガイア2007-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
• 多重スキャンツリー設計によるテストデータ量・テスト印加時間の削減(テスト容易化設計,システムLSI設計とその技術)
• 遷移遅延故障に対する高品質テスト生成手法について(セッション3 : テスト生成, VLSI設計とテスト及び一般)
• テスト系列短縮のための部分的並列なスキャンチェーンの構成法
• ドントケア判定と符号化によるテストデータ圧縮について
• ドントケア判定と符号化によるテストデータ圧縮について
• 信号値遷移削減のためのドントケア判定率の最適化に関する研究(テストI,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地)
• BIST指向n検出TPGの提案
• BIST指向 n検出 TPGの提案
• BIST指向n検出TPGの提案
• トランジション故障に対するテストパターンの極小化手法について
• トランジション故障に対するテストパターンの極小化手法について
• 入力ベクトルからの信号値を正当化する最小キューブ抽出(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
• 入力ベクトルからの信号値を正当化する最小キューブ抽出(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
• 入力ベクトルからの信号値を正当化する最小キューブ抽出(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
• 入力ベクトルからの信号値を正当化する最小キューブ抽出(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
• 論理回路に対するテスト実行時間削減法
• LC-3 テストパターン中の特定ビットにおけるドントケア判定法について(C. アーキテクチャ・ハードウェア)
• 入力ベクトルからの信号値を正当化する最小キューブ抽出
• 入力ベクトルからの信号値を正当化する最小キュｰブ抽出
• 多重スキャンツリー設計によるテスト圧縮手法(VLSIの設計/検証/テスト及び一般テスト)
• 多重スキャンツリー設計によるテスト圧縮手法(VLSIの設計/検証/テスト及び一般 テスト)(デザインガイア2003 -VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
• 多重スキャンツリー設計によるテスト圧縮手法(VLSIの設計/検証/テスト及び一般 テスト)(デザインガイア2003 -VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
• 多重スキャンツリー設計によるテスト圧縮手法(VLSIの設計/検証/テスト及び一般 テスト)(デザインガイア2003 -VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
• 多重スキャンツリー設計によるテスト圧縮手法
• フィールド高信頼化のためのアプローチ(LSIのテスト・評価技術)
• 中間故障電圧値を扱う故障シミュレーションの高速化について
• 論理回路における遅延テスト不要パスの高速導出法 (テストと設計検証論文特集)
• パス遅延故障のテストのためのロバスト依存パスの識別法
• 静的学習における効率的な間接含意の発見と保存について
• 静的学習における効率的な間接含意の発見と保存について
• 静的学習における効率的な間接含意の発見と保存について
• スキャン極性調節とピンポイントテスト変換によるテスト圧縮(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
• スキャン極性調節とピンポイントテスト変換によるテスト圧縮(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
• スキャン極性調節とピンポイントテスト変換によるテスト圧縮(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
• スキャン極性調節とピンポイントテスト変換によるテスト圧縮(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
• ランレングス符号とピンポイントテストパターン変換によるテストデータ量削減(VLSIの設計/検証/テスト及び一般テスト)
• ランレングス符号とピンポイントテストパターン変換によるテストデータ量削減(VLSIの設計/検証/テスト及び一般 テスト)(デザインガイア2003 -VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
• ランレングス符号とピンポイントテストパターン変換によるテストデータ量削減(VLSIの設計/検証/テスト及び一般 テスト)(デザインガイア2003 -VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
• ランレングス符号とピンポイントテストパターン変換によるテストデータ量削減(VLSIの設計/検証/テスト及び一般 テスト)(デザインガイア2003 -VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
• ランレングス符号とピンポイントテストパターン変換によるテストデータ量削減
• パス遅延故障テストにおける故障検出率の推定法
• ゲートレベル組合せ回路の単一論理設計誤りに対する診断手法
• ランダムアクセススキャン : テスト時消費電力,テストデータ量,テスト時開削減法(VLSI設計とテスト)
• テスト数制限下でのテスト入力集合の選択手法について (テストと設計検証論文特集)
• 到達不能状態に基づく順序回路の冗長除去手法
• テスト生成の静的学習における間接含意の習得法について

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