低消費電力テストのための制約付テスト生成手法について(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)
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概要
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スキャンテストにおいて,キャプチャ時のフリップフロップでの論理値の遷移が多く起こると過度のIRドロップを引き起こす可能性があり,それは誤テストとなって歩留まり低下をもたらす.本論文では通常の故障検出のみならず,スキャンテストのキャプチャ時の消費電力を考慮したテスト生成手法を提案する.一般に低消費電力テストではテストパターン数が増加する傾向にあるが,提案手法では少ないテストベクトルの増加で,低消費電力のテスト集合が生成できる.ベンチマーク回路に対する実験により提案手法の有効性を示す.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2007-01-11
著者
-
梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科
-
宮瀬 紘平
九州工業大学
-
温 暁青
九州工業大学
-
大和 勇太
九州工業大学大学院情報工学研究院
-
宮瀬 紘平
九州工業大学:jst Crest
-
温 暁青
九州工業大学:jst Crest
-
鈴木 達也
九州工業大学情報工学部
-
梶原 誠司
九州工業大学:jst Crest
-
塔ノ上 義章
九州工業大学情報工学部
-
宮瀬 紘平
科学技術振興機構
-
梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化システムセンター
-
梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化総合技術センタ
-
Kajihara S
Kyushu Inst. Technol. Iizuka‐shi Jpn
-
梶原 誠司
九州工業大学
-
宮瀬 絋平
九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系:独立行政法人科学技術振興機構crest
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