大和 勇太 | 九州工業大学大学院情報工学研究院
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概要
関連著者
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温 暁青
九州工業大学
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大和 勇太
九州工業大学大学院情報工学研究院
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宮瀬 紘平
九州工業大学:jst Crest
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梶原 誠司
九州工業大学:jst Crest
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Kajihara S
Kyushu Inst. Technol. Iizuka‐shi Jpn
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宮瀬 紘平
九州工業大学
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梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化システムセンター
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梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化総合技術センタ
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梶原 誠司
九州工業大学
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宮瀬 絋平
九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系:独立行政法人科学技術振興機構crest
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梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科
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温 暁青
九州工業大学:jst Crest
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Kajihara Seiji
Faculty Of Computer Science And Systems Engineering Kyushu Institute Of Technology
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古川 寛
九州工業大学大学院情報工学研究院
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鈴木 達也
九州工業大学情報工学部
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塔ノ上 義章
九州工業大学情報工学部
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宮瀬 紘平
科学技術振興機構
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高嶋 敦之
九州工業大学大学院情報工学研究院
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福澤 友晶
九州工業大学情報工学部
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中村 優介
パナソニックCCソフト株式会社
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GIRARD Patrick
LIRMM
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宮瀬 鉱平
九州工業大学大学院情報工学研究院
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中村 優介
九州工業大学大学院情報工学研究科
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サルージャ K.
ウィスコンシン大学マディソン校
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別府 厳
九州工業大学大学院情報工学府
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別府 巌
九州工業大学大学院情報工学府
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坂井 僚太
九州工業大学大学院
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宮瀬 絋平
九州工業大学大学院
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麻生 正雄
ルネサスマイクロシステム株式会社
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古川 寛
ルネサスマイクロシステム株式会社
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大和 勇太
福岡県産業・科学技術振興財団
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内之段 裕太
九州工業大学
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榎元 和成
九州工業大学
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大和 勇太
奈良先端科学技術大学院大学
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Wu Fangmei
LIRMM-University of Montpellier II/CNRS
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Dilillo Luigi
LIRMM-University of Montpellier II/CNRS
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Bosio Alberto
LIRMM-University of Montpellier II/CNRS
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Virazel Arnaud
LIRMM-University of Montpellier II/CNRS
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Girard Patrick
Lirmm-university Of Montpellier Ii/cnrs
著作論文
- 部分X分解によるX故障モデルを用いた故障診断手法の高速化(故障モデル・故障許容・故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
- LSI回路のX故障によるPer-Test故障診断手法の拡張について(LSIの評価・診断・解析及び,品質)
- 低消費電力テストのための制約付テスト生成手法について(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)
- 低消費電力テストのための制約付テスト生成手法について(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)
- 低消費電力テストのための制約付テスト生成手法について
- 信号値遷移削減のためのドントケア判定率の最適化に関する研究(テストI,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地-)
- 実速度スキャンテストにおけるキャプチャセーフテスト生成手法について(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
- 実速度スキャンテストにおけるキャプチャセーフテスト生成手法について(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
- 実速度スキャンテストにおけるキャプチャセーフテスト生成手法について(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地-)
- 実速度スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力テスト生成手法について(テストと検証,デザインガイア2007-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 実速度スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力テスト生成手法について(テストと検証,デザインガイア2007-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 実速度スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力テスト生成手法について(テストと検証,デザインガイア2007-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 信号値遷移削減のためのドントケア判定率の最適化に関する研究(テストI,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地)
- 実速度スキャンテストベクトルに対する遷移タイミング考慮キャプチャ安全性判定(低消費電力テスト・メモリテスト,VLSI設計とテスト及び一般)
- テストベクトル変換手法を用いた低消費電力LOS実速度テスト(設計/テスト/検証)