信号値遷移削減のためのドントケア判定率の最適化に関する研究(テストI,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地-)
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概要
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LSIのテストにおけるスキャンシフト動作,キャプチャ動作時の消費電力やIR-dropの増加は,解決すべき重要な課題である.スキャンシフト時の消費電力はDFT等の技術で削減可能である場合が多い.キャプチャ時の消費電力削減には,回路の修正,テストデータ量の増加,ATPGの修正を伴わないテストパターン修正手法が有効である.テストパターン修正手法はX判定とX-fillingから構成される.従来のX判定は,テストパターン中にできるだけ多くのXビットを見つけようとするが,比較的Xビット数の低いテストキューブも存在する.一般的に,各テストキューブに必要とされるXビット数はX-fillingと目的によって異なるものである.本論文では,ユーザが要求したXビット分布に従ってXビットの分布を制御する手法を提案する.実験結果では,提案手法が信号値遷移を削減するようなXビットの分布を求めることができることを示す.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2009-11-25
著者
-
梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科
-
宮瀬 紘平
九州工業大学
-
温 暁青
九州工業大学
-
大和 勇太
九州工業大学大学院情報工学研究院
-
宮瀬 紘平
九州工業大学:jst Crest
-
温 暁青
九州工業大学:jst Crest
-
梶原 誠司
九州工業大学:jst Crest
-
別府 厳
九州工業大学大学院情報工学府
-
梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化システムセンター
-
梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化総合技術センタ
-
Kajihara S
Kyushu Inst. Technol. Iizuka‐shi Jpn
-
Kajihara Seiji
Faculty Of Computer Science And Systems Engineering Kyushu Institute Of Technology
-
梶原 誠司
九州工業大学
-
宮瀬 絋平
九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系:独立行政法人科学技術振興機構crest
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