宮瀬 絋平 | 九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系:独立行政法人科学技術振興機構crest
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概要
関連著者
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宮瀬 絋平
九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系:独立行政法人科学技術振興機構crest
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梶原 誠司
九州工業大学
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宮瀬 紘平
九州工業大学
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梶原 誠司
九州工業大学:jst Crest
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宮瀬 紘平
九州工業大学:jst Crest
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温 暁青
九州工業大学
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梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科
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Kajihara S
Kyushu Inst. Technol. Iizuka‐shi Jpn
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梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化システムセンター
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梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化総合技術センタ
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Kajihara Seiji
Faculty Of Computer Science And Systems Engineering Kyushu Institute Of Technology
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温 暁青
九州工業大学:jst Crest
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大和 勇太
九州工業大学大学院情報工学研究院
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佐藤 康夫
九州工業大学
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レディ スダーカ
アイオワ大学
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宮瀬 紘平
科学技術振興機構
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佐藤 康夫
九州工業大学:jst Crest
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古川 寛
九州工業大学大学院情報工学研究院
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永山 忍
広島市立大学大学院情報科学研究科
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鈴木 達也
九州工業大学情報工学部
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永山 忍
九州工業大学
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王 森レイ
九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻
-
王 森レイ
九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構CREST
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三浦 幸也
首都大学東京
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皆本 義弘
科学技術振興機構
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三浦 幸也
首都大学東京システムデザイン学部情報通信システム工学コース:独立行政法人科学技術振興機構crest
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谷口 謙二郎
九州工業大学情報工学部電子情報工学科
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高嶋 敦之
九州工業大学大学院情報工学研究院
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福澤 友晶
九州工業大学情報工学部
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谷口 謙二郎
九州工業大学大学院情報工学研究科
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三浦 幸也
首都大学東京システムデザイン学部
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宮瀬 絋平
九州工業大学大学院
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加藤 隆明
九州工業大学情報工学部電子情報工学科
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加藤 隆明
九州工業大学情報工学部電子情報工学科:独立行政法人科学技術振興機構crest
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加藤 隆明
九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構CREST
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中村 優介
パナソニックCCソフト株式会社
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野田 光政
九州工業大学大学院情報工学府
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宮瀬 鉱平
九州工業大学大学院情報工学研究院
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塔ノ上 義章
九州工業大学情報工学部
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松薗 誠
九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻
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山口 久登
九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻:独立行政法人科学技術振興機構crest
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松薗 誠
九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻:独立行政法人科学技術振興機構crest
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榎元 和成
九州工業大学
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山口 久登
九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構crest
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松薗 誠
九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構crest
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松薗 誠
九州工業大学
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山口 久登
九州工業大学
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奥 慎治
九州工業大学
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GIRARD Patrick
LIRMM
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原口 雅史
九州工業大学大学院情報工学研究院
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中村 優介
九州工業大学大学院情報工学研究科
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サルージャ K.
ウィスコンシン大学マディソン校
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別府 厳
九州工業大学大学院情報工学府
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別府 巌
九州工業大学大学院情報工学府
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奥 慎治
九州工業大学:jst Crest
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レディ スダｰカ
アイオワ大学
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宮瀬 紘平
Kyushu Institute of Technology
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レディ スダーガ
アイオワ大学
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温 暁青
九州工業大学大学院
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坂井 僚太
九州工業大学大学院
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麻生 正雄
ルネサスマイクロシステム株式会社
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古川 寛
ルネサスマイクロシステム株式会社
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大和 勇太
福岡県産業・科学技術振興財団
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宮瀬 紘平
九州工業大学大学院
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内之段 裕太
九州工業大学
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大和 勇太
奈良先端科学技術大学院大学
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Wu Fangmei
LIRMM-University of Montpellier II/CNRS
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Dilillo Luigi
LIRMM-University of Montpellier II/CNRS
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Bosio Alberto
LIRMM-University of Montpellier II/CNRS
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Virazel Arnaud
LIRMM-University of Montpellier II/CNRS
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Girard Patrick
Lirmm-university Of Montpellier Ii/cnrs
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三宅 庸資
九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻
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田中 広彬
九州工業大学
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王 森レイ
九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻:独立行政法人科学技術振興機構crest
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佐藤 康夫
九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系
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梶原 誠司
九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構CREST
-
梶原 誠司
九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系
-
宮瀬 紘平
九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構CREST
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原口 雅史
九州工業大学大学院 情報工学研究院
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宮瀬 絋平
九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系
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佐藤 康夫
九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構CREST
-
三宅 庸資
九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構CREST
著作論文
- 部分X分解によるX故障モデルを用いた故障診断手法の高速化(故障モデル・故障許容・故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
- 3値テストパターンに対する遅延テスト品質計算とX割当について(遅延故障テスト,VLSI設計とテスト及び一般)
- 劣化検知テストにおけるパス選択について(テストII,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地)
- 劣化検知テストにおけるパス選択について(テストII,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地-)
- 論理回路の動作環境とトランジスタの劣化特性について(設計/テスト/検証)
- ブロードサイドテストにおけるN回検出用テストパターンに対するX判定(デザインガアイ2006-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
- ブロードサイドテストにおけるN回検出用テストパターンに対するX判定(VLSIのテストI,デザインガイア2006-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
- ブロードサイドテストにおけるN回検出用テストパターンに対するX判定(VLSIのテストI,デザインガイア2006-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
- LSI回路のX故障によるPer-Test故障診断手法の拡張について(LSIの評価・診断・解析及び,品質)
- 低消費電力テストのための制約付テスト生成手法について(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)
- 低消費電力テストのための制約付テスト生成手法について(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)
- スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力化に効果的なテスト集合変更について(VLSIの設計/検証/テスト及び一般(デザインガイア))
- スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力化に効果的なテスト集合変更について(VLSIの設計/検証/テスト及び一般(デザインガイア))
- スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力化に効果的なテスト集合変更について(VLSIの設計/検証/テスト及び一般(デザインガイア))
- スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力化に効果的なテスト集合変更について(VLSIの設計/検証/テスト及び一般(デザインガイア))
- 信号値遷移削減のためのドントケア判定率の最適化に関する研究(テストI,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地-)
- 実速度スキャンテストにおけるキャプチャセーフテスト生成手法について(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
- 実速度スキャンテストにおけるキャプチャセーフテスト生成手法について(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
- 実速度スキャンテストにおけるキャプチャセーフテスト生成手法について(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地-)
- 実速度スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力テスト生成手法について(テストと検証,デザインガイア2007-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 実速度スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力テスト生成手法について(テストと検証,デザインガイア2007-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 実速度スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力テスト生成手法について(テストと検証,デザインガイア2007-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 多重スキャンツリー設計によるテストデータ量・テスト印加時間の削減(テスト容易化設計,システムLSI設計とその技術)
- 信号値遷移削減のためのドントケア判定率の最適化に関する研究(テストI,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地)
- 入力ベクトルからの信号値を正当化する最小キューブ抽出(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
- 入力ベクトルからの信号値を正当化する最小キューブ抽出(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 入力ベクトルからの信号値を正当化する最小キューブ抽出(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 入力ベクトルからの信号値を正当化する最小キューブ抽出(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 入力ベクトルからの信号値を正当化する最小キューブ抽出
- 入力ベクトルからの信号値を正当化する最小キュｰブ抽出
- 多重スキャンツリー設計によるテスト圧縮手法(VLSIの設計/検証/テスト及び一般テスト)
- 多重スキャンツリー設計によるテスト圧縮手法(VLSIの設計/検証/テスト及び一般 テスト)(デザインガイア2003 -VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 多重スキャンツリー設計によるテスト圧縮手法(VLSIの設計/検証/テスト及び一般 テスト)(デザインガイア2003 -VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 実速度スキャンテストベクトルに対する遷移タイミング考慮キャプチャ安全性判定(低消費電力テスト・メモリテスト,VLSI設計とテスト及び一般)
- テストベクトル変換手法を用いた低消費電力LOS実速度テスト(設計/テスト/検証)
- マルチサイクルテスト構造を用いたキャプチャ電力の低減(テスト設計2,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
- マルチサイクルテスト構造を用いたキャプチャ電力の低減(テスト設計2,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
- パターンマージングによる遷移遅延故障用テストのパス遅延故障検出能力向上手法(低消費電力・遅延テスト・高精度欠陥推定,VLSI設計とテスト及び一般)
- フィールドテストのための温度・電圧推定回路の試作評価(ばらつき・フィールドテスト,VLSI設計とテスト及び一般)
- 低電力BISTにおけるシフトトグル率低減手法について(低消費電力・遅延テスト・高精度欠陥推定,VLSI設計とテスト及び一般)
- ネットリストを用いたドントケアビット数の見積り手法に関する研究 (ディペンダブルコンピューティング)
- 低電力BISTにおけるシフトトグル率低減手法について
- 論理BISTの電力低減手法と評価(設計/テスト/検証)
- ネットリストを用いたドントケアビット数の見積り手法に関する研究(テスト,デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-)
- ネットリストを用いたドントケアビット数の見積り手法に関する研究(テスト,デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-)
- マルチサイクルBISTにおけるスキャン出力の電力低減手法(テスト,デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-)
- マルチサイクルBISTにおけるスキャン出力の電力低減手法(テスト,デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-)