古川 寛 | 九州工業大学大学院情報工学研究院
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概要
関連著者
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宮瀬 紘平
九州工業大学
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温 暁青
九州工業大学
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大和 勇太
九州工業大学大学院情報工学研究院
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宮瀬 紘平
九州工業大学:jst Crest
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梶原 誠司
九州工業大学:jst Crest
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古川 寛
九州工業大学大学院情報工学研究院
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梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化システムセンター
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梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化総合技術センタ
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Kajihara S
Kyushu Inst. Technol. Iizuka‐shi Jpn
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梶原 誠司
九州工業大学
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宮瀬 絋平
九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系:独立行政法人科学技術振興機構crest
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梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科
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温 暁青
九州工業大学:jst Crest
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Kajihara Seiji
Faculty Of Computer Science And Systems Engineering Kyushu Institute Of Technology
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高嶋 敦之
九州工業大学大学院情報工学研究院
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福澤 友晶
九州工業大学情報工学部
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坂井 僚太
九州工業大学大学院
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宮瀬 絋平
九州工業大学大学院
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麻生 正雄
ルネサスマイクロシステム株式会社
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古川 寛
ルネサスマイクロシステム株式会社
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大和 勇太
福岡県産業・科学技術振興財団
著作論文
- 実速度スキャンテストにおけるキャプチャセーフテスト生成手法について(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
- 実速度スキャンテストにおけるキャプチャセーフテスト生成手法について(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
- 実速度スキャンテストにおけるキャプチャセーフテスト生成手法について(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地-)
- 実速度スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力テスト生成手法について(テストと検証,デザインガイア2007-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 実速度スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力テスト生成手法について(テストと検証,デザインガイア2007-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 実速度スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力テスト生成手法について(テストと検証,デザインガイア2007-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 実速度スキャンテストベクトルに対する遷移タイミング考慮キャプチャ安全性判定(低消費電力テスト・メモリテスト,VLSI設計とテスト及び一般)