実速度スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力テスト生成手法について(テストと検証,デザインガイア2007-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
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概要
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実速度スキャンテストにおいて,キャプチャ時に多くのフリップフロップで論理値の遷移が起こると過度のIRドロップが生じる可能性がある.過度のIRドロップはゲート遅延を増大させ,正常回路を不良と判定する誤テストを引き起こし,歩留り低下の原因となる.本論文では,遷移故障を対象として,通常の故障検出のみならず,実速度スキャンテストのキャプチャ時の消費電力を考慮したテスト生成手法を提案する.一般に低消費電力テストではテストパターン数が増加する傾向にあるが,提案手法では少ないテストベクトル数の増加で,低消費電力のテストを実現する.ベンチマーク回路に対する実験により提案手法の有効性を示す.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2007-11-13
著者
-
梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科
-
宮瀬 紘平
九州工業大学
-
温 暁青
九州工業大学
-
大和 勇太
九州工業大学大学院情報工学研究院
-
宮瀬 紘平
九州工業大学:jst Crest
-
温 暁青
九州工業大学:jst Crest
-
梶原 誠司
九州工業大学:jst Crest
-
古川 寛
九州工業大学大学院情報工学研究院
-
福澤 友晶
九州工業大学情報工学部
-
梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化システムセンター
-
梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化総合技術センタ
-
Kajihara S
Kyushu Inst. Technol. Iizuka‐shi Jpn
-
梶原 誠司
九州工業大学
-
宮瀬 絋平
九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系:独立行政法人科学技術振興機構crest
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