論理回路の動作環境とトランジスタの劣化特性について(設計/テスト/検証)
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概要
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集積回路の微細化技術の進展とともに,回路の劣化に伴う経時変化の考慮が重要になっている.本研究では,回路の劣化検知を行う準備として,論理回路の動作環境の変動や回路ばらつきによる回路特性への影響について回路シミュレータを用い評価した.まず,プロセスモニタ回路として利用できるリング発振器に対して,温度変化による周波数変動と,回路の電源電圧の変化による周波数変動を調査した.次に,NANDゲートで構成される論理パスをモデルに,温度変化と電源電圧の変化による遅延変動について考察した.ここではさらに回路の劣化特性として,回路内のNBTIによるトランジスタの劣化を仮定し,回路の動作変動を調査した.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2008-06-13
著者
-
梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科
-
佐藤 康夫
九州工業大学
-
宮瀬 紘平
九州工業大学
-
温 暁青
九州工業大学
-
三浦 幸也
首都大学東京
-
宮瀬 紘平
九州工業大学:jst Crest
-
原口 雅史
九州工業大学大学院情報工学研究院
-
温 暁青
九州工業大学:jst Crest
-
梶原 誠司
九州工業大学:jst Crest
-
佐藤 康夫
九州工業大学:jst Crest
-
梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化システムセンター
-
梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化総合技術センタ
-
Kajihara S
Kyushu Inst. Technol. Iizuka‐shi Jpn
-
Kajihara Seiji
Faculty Of Computer Science And Systems Engineering Kyushu Institute Of Technology
-
三浦 幸也
首都大学東京システムデザイン学部
-
梶原 誠司
九州工業大学
-
宮瀬 絋平
九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系:独立行政法人科学技術振興機構crest
-
三浦 幸也
首都大学東京システムデザイン学部情報通信システム工学コース:独立行政法人科学技術振興機構crest
-
原口 雅史
九州工業大学大学院 情報工学研究院
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