三浦 幸也 | 首都大学東京
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概要
関連著者
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三浦 幸也
首都大学東京
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三浦 幸也
首都大学東京システムデザイン学部
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梶原 誠司
九州工業大学
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佐藤 康夫
九州工業大学
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三宅 庸資
九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構CREST
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宮瀬 紘平
九州工業大学
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三浦 幸也
首都大学東京システムデザイン学部情報通信システム工学コース:独立行政法人科学技術振興機構crest
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梶原 誠司
九州工業大学:jst Crest
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梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科
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温 暁青
九州工業大学
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宮瀬 紘平
九州工業大学:jst Crest
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佐藤 康夫
九州工業大学:jst Crest
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梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化システムセンター
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梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化総合技術センタ
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Kajihara S
Kyushu Inst. Technol. Iizuka‐shi Jpn
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Kajihara Seiji
Faculty Of Computer Science And Systems Engineering Kyushu Institute Of Technology
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宮瀬 絋平
九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系:独立行政法人科学技術振興機構crest
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温 暁青
九州工業大学:jst Crest
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三宅 庸資
九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻
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津森 渉
九州工業大学
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四柳 浩之
徳島大学大学院
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橋爪 正樹
徳島大学大学院
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秦 豊
徳島大学
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四柳 浩之
徳島大学工学部電気電子工学科
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橋爪 正樹
徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部 情報ソリューション部門
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橋爪 正樹
徳島大学
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野田 光政
九州工業大学大学院情報工学府
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原口 雅史
九州工業大学大学院情報工学研究院
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加藤 二郎
首都大学東京大学院システムデザイン研究科
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四柳 浩之
徳島大学
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四柳 浩之
徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部
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Yotsuyanagi Hiroyuki
Faculty Of Engineering The Univ. Of Tokushima
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Yotsuyanagi Hiroyuki
Dept. Of Information Solution Institute Of Technology And Science University Of Tokushima
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大川 善大
首都大学東京大学院システムデザイン研究科
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三浦 幸也
首都大学東京システムデザイン学部情報通信システム工学コース
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笹川 琢磨
九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻
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原口 雅史
九州工業大学大学院 情報工学研究院
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藤原 秀雄
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
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藤原 秀雄
奈良先端科学技術大学院大学:独立行政法人科学技術振興機構
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宮瀬 鉱平
九州工業大学大学院情報工学研究院
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梶原 誠司
九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構
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竹鼻 匡央
独立行政法人科学技術振興機構,CREST
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竹鼻 匡央
独立行政法人科学技術振興機構 Crest
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佐藤 康夫
九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系:独立行政法人科学技術振興機構crest
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温 暁青
九州工業大学大学院 情報工学研究院
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佐藤 康夫
九州工業大学大学院 情報工学研究院
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梶原 誠司
九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系:独立行政法人科学技術振興機構CREST
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梶原 誠司
九州工業大学大学院 情報工学研究院
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梶原 誠司
九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系
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宮瀬 紘平
九州工業大学大学院 情報工学研究院
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宮瀬 紘平
九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系
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佐藤 康夫
九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構CREST
-
笹川 琢磨
九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻:独立行政法人科学技術振興機構CREST
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津森 渉
九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構CREST
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三浦 幸也
首都大学東京:独立行政法人科学技術振興機構CREST
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四柳 浩之
徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部情報ソリューション部門
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梶原 誠司
九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構 CREST
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三浦 幸也
首都大学東京:独立行政法人科学技術振興機構 CREST
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佐藤 康夫
九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構 CREST
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津森 渉
九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構 CREST
著作論文
- 周期信号の自己訂正法(アナログ・ばらつき・電流テスト,VLSI設計とテスト及び一般)
- D-10-12 抵抗ラダー型DACの電流テスト容易化設計(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
- 劣化検知テストにおけるパス選択について(テストII,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地)
- 劣化検知テストにおけるパス選択について(テストII,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地-)
- AI-1-7 フィールド高信頼化のための回路・システム機構(AI-1.デイベンダブルVLSIに向けて,依頼シンポジウム,ソサイエティ企画)
- 論理回路の動作環境とトランジスタの劣化特性について(設計/テスト/検証)
- 複数の観測トランジスタとデータサンプリングを使用したアナログ回路の診断(アナログ・ばらつき・電流テスト,VLSI設計とテスト及び一般)
- D-10-7 抵抗ラダー型DAC内MOS短絡の電流テスト容易化設計(D-10.ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
- D-10-11 VLSIのトランジスタ劣化特性に関する考察(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
- ノイズパルスを考慮したデュアルエッジトリガフリップフロップの提案(ディペンダブル・回路・検証,VLSI設計とテスト及び一般)
- ディジタル回路の適応検査を応用したアナログ回路の故障診断(セッション5 : アナログ回路テスト, VLSI設計とテスト及び一般)
- 2重クロックパルス法の実現とばらつき耐性の評価(セッション5 : アナログ回路テスト, VLSI設計とテスト及び一般)
- クロストークを考慮したクロック信号の生成・検出法の提案(欠陥ベーステスト,VLSI設計とテスト及び一般)
- デュアルエッジトリガフリップフロップの設計と信号遅延検知への応用(回路設計・ハードウェアトロイ設計,VLSI設計とテスト及び一般)
- フィールドテストのための温度・電圧推定回路の試作評価(ばらつき・フィールドテスト,VLSI設計とテスト及び一般)
- フィールドテストのための温度・電圧推定回路の試作評価
- デュアルエッジトリガフリップフロップの設計と信号遅延検知への応用
- 論理回路の動作環境とトランジスタの劣化特性について
- リングオシレータ利用モニタ回路によるチップ内温度・電圧の試作評価とフィールドテストへの活用検討(設計/テスト/検証)
- フィールドテストのための温度・電圧モニタ回路構成の検討(テスト,デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-)
- フィールドテストのための温度・電圧モニタ回路構成の検討(テスト,デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-)
- モニタ回路による製造バラツキを考慮した温度・電圧推定手法(フィールトテストと許容故障判定, VLSI設計とテスト及び一般)
- リングオシレータ利用モニタ回路によるチップ内温度・電圧の試作評価とフィールドテストへの活用検討