Yotsuyanagi Hiroyuki | Faculty Of Engineering The Univ. Of Tokushima

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概要

• 同名の論文著者
• Faculty Of Engineering The Univ. Of Tokushimaの論文著者

関連著者

• Yotsuyanagi Hiroyuki

  Faculty Of Engineering The Univ. Of Tokushima

• 四柳 浩之

  徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部

• 四柳 浩之

  徳島大学大学院

• 四柳 浩之

  徳島大学

• Yotsuyanagi Hiroyuki

  Dept. Of Information Solution Institute Of Technology And Science University Of Tokushima

• 橋爪 正樹

  徳島大学大学院

• 四柳 浩之

  徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部情報ソリューション部門

• YOTSUYANAGI Hiroyuki

  Facullty of Engineering, The University of Tokushima

• Tamesada T

  Faculty Of Engineering The Univ. Of Tokushima

• Hashizume M

  Faculty Of Engineering The Univ. Of Tokushima

• Hashizume Masaki

  Faculty Of Engineering Tokushima University

• HASHIZUME Masaki

  Faculty of Engineering, The Univ. of Tokushima

• TAMESADA Takeomi

  Faculty of Engineering, The Univ. of Tokushima

• Tamesada Takeomi

  Faculty Of Engineering Tokushima University

• Yotsuyanagi H

  Faculty of Engineering, The Univ. of Tokushima

• 橋爪 正樹

  徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部 情報ソリューション部門

• 堤 利幸

  明治大学

• 山崎 浩二

  明治大学

• 高橋 寛

  愛媛大学大学院

• 樋上 喜信

  愛媛大学大学院

• 高橋 寛

  山形大 工

• 槇本 浩之

  徳島大学大学院 先端技術科学教育部 システム創生工学専攻 電気電子創生工学コース

• 岡田 靖彦

  徳島大学大学院 先端技術科学教育部 システム創生工学専攻 電気電子創生工学コース

• 山崎 浩二

  明治大学情報コミュニケーション学部

• 樋上 喜信

  愛媛大学大学院理工学研究科

• 高橋 寛

  愛媛大学大学院理工学研究科

• 高松 雄三

  愛媛大学

• 橋爪 正樹

  徳島大学

• ICHIMIYA Masahiro

  Facullty of Engineering, The University of Tokushima

• Ichimiya Masahiro

  Faculty Of Engineering The Univ. Of Tokushima

• Takahashi Hiroshi

  The Authors Are With The Faculty Of Engineering Ehime University

• Ichimiya M

  Faculty of Engineering, The Univ. of Tokushima

• 高松 雄三

  愛媛大学大学院理工学研究科

• 堤 利幸

  明治大学大学院理工学研究科

• 秦 豊

  徳島大学

• 三浦 幸也

  首都大学東京

• 四柳 浩之

  徳島大学工学部電気電子工学科

• Kinoshita Kozo

  Faculty Of Engineering Osaka University

• 岡田 靖彦

  徳島大学大学院先端技術科学教育部システム創生工学専攻電気電子創生工学コース

• 槇本 浩之

  徳島大学大学院先端技術科学教育部システム創生工学専攻電気電子創生工学コース

• 高松 雄三

  愛媛大学大学院 理工学研究科

• 橋爪 正樹

  徳島大学大学院 ソシオテクノサイエンス研究部 情報ソリューション部門

• 山崎 浩二

  明治大学理工学部情報科学科

• 堤 利幸

  明治大学理工学部情報科学科

• 堤 利幸

  明治大学理工学部

• 首藤 祐太

  愛媛大学大学院

• 高棟 佑司

  愛媛大学大学院

• 刈谷 泰由紀

  明治大学大学院理工学研究科

• 相京 隆

  半導体理工学研究センター(STARC)

• 樽見 洋

  徳島大学大学院先端技術科学教育部

• 栗林 遼太

  徳島大学大学院先端技術科学教育部

• 相京 隆

  半導体理工学研究セ

• Takagi Masao

  Takuma National College Of Technology

• Miura Y

  Graduate School Of Engineering Osaka City University

• Kinoshita Kozo

  Faculty Of Informatics Osaka Gakuin University

• Kajihara Seiji

  Faculty Of Computer Science And Systems Engineering Kyushu Institute Of Technology

• 樹下 行三

  大阪学院大 情報

• TAKEDA Teppei

  Facullty of Engineering, The University of Tokushima

• MIURA Yukiya

  Graduate School of Engineering, Tokyo Metropolitan University

• Miura Y

  Graduate School Of Engineering Tokyo Metropolitan University

• Miura Yukiya

  Graduate Course Of Electrical Engineering Tokyo Metropolitan University

• 加藤 健二

  徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部

• Hashizume Masaki

  Dept. Of Information Solution Institute Of Technology And Science University Of Tokushima

• Takeda T

  Faculty Of Agriculture Shinshu University

• YAMAMOTO Masayuki

  Dept. of Information Solution, Institute of Technology and Science, University of Tokushima

• IWAKIRI Taisuke

  Faculty of Engineering, University of Tokushima

• HOSHIKA Hiroshi

  Faculty of Engineering, University of Tokushima

• Hoshika Hiroshi

  Faculty Of Engineering University Of Tokushima

• Yamamoto Masayuki

  Dept. Of Information Solution Institute Of Technology And Science University Of Tokushima

• Iwakiri Taisuke

  Faculty Of Engineering University Of Tokushima

• 小西 朝陽

  徳島大学

• 山下 淳

  大阪学院大学大学院コンピュータサイエンス研究科

• Takagi M

  Takuma National College of Technology

• Iwakiri T

  Faculty of Engineering, University of Tokushima

• Kinoshita K

  Faculty of Informatics,Osaka Gakuin University

• Hoshika H

  Faculty of Engineering, University of Tokushima

• KINOSHITA Kozo

  Faculty of Informatics,Osaka Gakuin University

• 四柳 浩之

  徳島大学大学院 ソシオテクノサイエンス研究部 情報ソリューション部門

• 小西 朝陽

  徳島大学大学院先端技術科学教育部

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著作論文

• 抵抗性オープン故障のモデル化とそのテスト生成について(テスト生成,VLSI設計とテスト及び一般)
• TEGチップのデジタル測定によるオープン故障のモデル化の検討(故障モデル・故障許容・故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
• 故障励起関数を利用したオープン故障の診断法(ディペンダブルコンピューティング)
• D-10-12 抵抗ラダー型DACの電流テスト容易化設計(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
• D-10-13 多重縮退故障に対応するビアオープンとそのテスト生成についての一考察(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
• D-10-14 隣接線への論理値割当を行う断線故障検査用テスト生成(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
• D-10-7 抵抗ラダー型DAC内MOS短絡の電流テスト容易化設計(D-10.ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
• IDDQ Test Time Reduction by High Speed Charging of Load Capacitors of CMOS Logic Gates(Special Issue on Test and Verification of VLSI)
• Lead Open Detection Based on Supply Current of CMOS LSIs(Papers Selected from 2003 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications(ITC-CSCC 2003))
• IEEE1149.1準拠IC間断線の電気検査法
• Retiming for Sequential Circuits with a Specified Initial State and Its Application to Testability Enhancement
• CMOS Open Defect Detection by Supply Current Measurement under Time-Variable Electric Field Supply(Special Issue on Test and Verification of VLSI)
• Scan Chain Ordering to Reduce Test Data for BIST-Aided Scan Test Using Compatible Scan Flip-Flops
• Identification and Frequency Estimation of Feedback Bridging Faults Generating Logical Oscillation in CMOS Circuits(Fault Detection)(Test and Verification of VLSI)
• Test Sequence Generation for Test Time Reduction of IDDQ Testing(Test Generation and Compaction)(Test and Verification of VLSI)
• Test Pattern Generation for CMOS Open Defect Detection by Supply Current Testing under AC Electric Field(Test)(Dependable Computing)
• Sequential Redundancy Removal Using Test Generation and Multiple Strongly Unreachable States(Special Issue on Test and Verification of VLSI)
• Sequential Redundancy Removal Using Test Generation and Multiple Strongly Unreachable States(Special Issue on Test and Verification of VLSI)
• Testable Static CMOS PLA for IDDQ Testing(Special Section on Papers Selected from ITC-CSCC 2000)
• D-10-4 ESD入力保護能力を低下させないIC間断線の電気的検査用回路(D-10.ディペンダブルコンピューテイング,一般セッション)
• D-10-3 隣接線を考慮したパターン併合によるオープン故障用テストパターン生成(D-10.ディペンダブルコンピューテイング,一般セッション)
• TDCを組み込んだ遅延故障検出用テスト容易化設計について(テスト設計2,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
• テストデータ量削減のための反転信号シフト型BAST構成とテストパターン生成法(テスト設計1,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
• TDCを組み込んだ遅延故障検出用テスト容易化設計について(テスト設計2,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
• テストデータ量削減のための反転信号シフト型BAST構成とテストパターン生成法(テスト設計1,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
• TDCを組み込んだ遅延故障検出用テスト容易化設計について
• テストデータ量削減のための反転信号シフト型BAST構成とテストパターン生成法
• テストデータ量削減のための反転信号シフト型BAST構成とテストパターン生成法
• TDCを組み込んだ遅延故障検出用テスト容易化設計について
• シグナルインティグリティ不良に対する実証的研究の試み(設計/テスト/検証)

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