高松 雄三 | 愛媛大学大学院理工学研究科
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概要
関連著者
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高松 雄三
愛媛大学大学院理工学研究科
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高松 雄三
愛媛大学大学院 理工学研究科
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樋上 喜信
愛媛大学大学院理工学研究科
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高橋 寛
愛媛大学大学院理工学研究科
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高松 雄三
愛媛大学
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高橋 寛
愛媛大学大学院
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樋上 喜信
愛媛大学大学院
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Takahashi Hiroshi
The Authors Are With The Faculty Of Engineering Ehime University
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四柳 浩之
徳島大学大学院
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橋爪 正樹
徳島大学大学院
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高橋 寛
山形大 工
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山崎 浩二
明治大学情報コミュニケーション学部
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堤 利幸
明治大学大学院理工学研究科
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堤 利幸
明治大学
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山崎 浩二
明治大学
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橋爪 正樹
徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部 情報ソリューション部門
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四柳 浩之
徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部
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四柳 浩之
徳島大学
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相京 隆
半導体理工学研究センター(STARC)
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山崎 浩二
明治大学理工学部情報科学科
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刈谷 泰由紀
明治大学大学院理工学研究科
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相京 隆
愛媛大学大学院理工学研究科
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相京 隆
愛媛大学大学院 理工学研究科
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阿萬 裕久
愛媛大学大学院理工学研究科
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首藤 祐太
愛媛大学大学院
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高棟 佑司
愛媛大学大学院
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山田 輝
愛媛大学工学部情報工学科:(現)nec システムテクノロジー株式会社
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阿萬 裕久
愛媛大学大学院
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渡部 哲也
愛媛大学大学院
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Yotsuyanagi Hiroyuki
Faculty Of Engineering The Univ. Of Tokushima
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Yotsuyanagi Hiroyuki
Dept. Of Information Solution Institute Of Technology And Science University Of Tokushima
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相京 隆
(株)半導体理工学研究センター
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小林 真也
愛媛大学 工学部
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和泉 太佑
愛媛大学大学院理工学研究科
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小林 真也
愛媛大学大学院理工学研究科
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Saluja KewalK
Department of Electrical and Computer Engineering, University of Wisconsin - Madison
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堤 利幸
明治大学理工学部情報科学科
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堤 利幸
明治大学理工学部
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小野 恭平
愛媛大学大学院理工学研究科電子情報工学専攻博士前期課程
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門山 周平
愛媛大学大学院
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大津 潤一
愛媛大学大学院理工学研究科
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清水 隆治
(株)半導体理工学研究センター
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吉川 達
愛媛大学大学院理工学研究科電子情報工学専攻
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清水 隆治
(株)半導体理工学研究センター:(現)富士通マイクロエレクトロニクス(株)
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サルージャ ケーワルk.
Department Of Electrical And Computer Engineering University Of Wisconsin - Madison
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Saluja Kewal
ウィスコンシン大学
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Saluja Kewal
ウィスコンシン大学マディソン校
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Saluja Kewal
Univ. Of Wisconsin-madison Dept. Of Electrical And Computer Engineering
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Saluja Kewal
ウイスコンシン大学
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Saluja Kewal
Department Of Electrical & Computer Engineering Uw-madison
著作論文
- 抵抗性オープン故障のモデル化とそのテスト生成について (ディペンダブルコンピューティング)
- ゲートレベルを用いたトランジスタショートに対するテスト生成法(セッション3 : テスト生成, VLSI設計とテスト及び一般)
- 抵抗性オープン故障のモデル化とそのテスト生成について(テスト生成,VLSI設計とテスト及び一般)
- TEGチップのデジタル測定によるオープン故障のモデル化の検討(故障モデル・故障許容・故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
- 隣接信号線を考慮したオープン故障のテストパターンについて(欠陥ベーステスト,VLSI設計とテスト及び一般)
- TEGチップを用いたオープン故障の解析(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
- TEGチップを用いたオープン故障の解析(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
- TEGチップを用いたオープン故障の解析(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地-)
- オープン故障診断の性能向上について(設計/テスト/検証)
- 隣接信号線を考慮した動的なオープン故障に対する故障診断法(故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
- 検出可能な遅延故障サイズを考慮した遅延故障診断法(ディペンダブルコンピューティング)
- 組合せ回路に対する欠陥考慮テストパターンの一生成法(欠陥ベーステスト,VLSI設計とテスト及び一般)
- 遷移故障に対する診断用テスト生成法(故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
- 直交表を用いた単体テストに関する考察 : JUnit支援ツールの試作
- 直交表を用いた単体テストに関する考察 : JUnit支援ツールの試作