相京 隆 | 半導体理工学研究センター(STARC)
スポンサーリンク
概要
関連著者
-
相京 隆
半導体理工学研究センター(STARC)
-
高橋 寛
愛媛大学大学院理工学研究科
-
樋上 喜信
愛媛大学大学院理工学研究科
-
高松 雄三
愛媛大学
-
樋上 喜信
愛媛大学大学院
-
Takahashi Hiroshi
The Authors Are With The Faculty Of Engineering Ehime University
-
相京 隆
愛媛大学大学院理工学研究科
-
高橋 寛
愛媛大学大学院
-
相京 隆
愛媛大学大学院 理工学研究科
-
高橋 寛
山形大 工
-
高松 雄三
愛媛大学大学院理工学研究科
-
高松 雄三
愛媛大学大学院 理工学研究科
-
山崎 浩二
明治大学情報コミュニケーション学部
-
四柳 浩之
徳島大学大学院
-
橋爪 正樹
徳島大学大学院
-
高橋 寛
愛媛大学理工学研究科電子情報工学専攻
-
高松 雄三
愛媛大学理工学研究科電子情報工学専攻
-
堤 利幸
明治大学理工学部情報科学科
-
堤 利幸
明治大学
-
山崎 浩二
明治大学
-
橋爪 正樹
徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部 情報ソリューション部門
-
樋上 喜信
愛媛大学 工学部
-
高橋 寛
愛媛大学 工学部情報工学科
-
四柳 浩之
徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部
-
高橋 寛
愛媛大学
-
樋上 喜信
愛媛大学
-
相京 隆
(株)半導体理工学研究センター
-
堤 利幸
明治大学理工学部
-
渡部 哲也
愛媛大学大学院
-
相京 隆
半導体理工学研究セ
-
吉川 達
愛媛大学大学院理工学研究科電子情報工学専攻
-
山崎 浩二
明治大学理工学部情報科学科
-
和泉 太佑
愛媛大学大学院理工学研究科
-
堤 利幸
明治大学大学院理工学研究科
-
小野 恭平
愛媛大学大学院理工学研究科電子情報工学専攻博士前期課程
-
門山 周平
愛媛大学大学院
-
相京 隆
株式会社半導体理工学研究センター
-
大津 潤一
愛媛大学大学院理工学研究科
-
清水 隆治
(株)半導体理工学研究センター
-
黒瀬 洋介
愛媛大学大学院理工学研究科電子情報工学専攻
-
大野 智志
愛媛大学大学院理工学研究科電子情報工学専攻
-
山岡 弘典
愛媛大学大学院理工学研究科電子情報工学専攻
-
清水 良浩
株式会社半導体理工学研究センター
-
岡山 浩士
愛媛大学
-
清水 祐紀
愛媛大学
-
清水 隆治
(株)半導体理工学研究センター:(現)富士通マイクロエレクトロニクス(株)
-
四柳 浩之
徳島大学
-
Yotsuyanagi Hiroyuki
Faculty Of Engineering The Univ. Of Tokushima
-
Yotsuyanagi Hiroyuki
Dept. Of Information Solution Institute Of Technology And Science University Of Tokushima
著作論文
- 故障励起関数を利用したオープン故障の診断法
- 故障励起関数を利用したオープン故障の診断法(ディペンダブルコンピューティング)
- オープン故障診断の性能向上について(設計/テスト/検証)
- 隣接信号線を考慮した動的なオープン故障に対する故障診断法(故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
- 検出可能な遅延故障サイズを考慮した遅延故障診断法(ディペンダブルコンピューティング)
- 縮退故障用ATPGを用いた遷移故障の診断用テスト生成法(設計/テスト/検証,設計/テスト/検証)
- D-10-19 遅延故障シミュレーションに基づく欠陥診断(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
- 組合せ回路に対する欠陥考慮テストパターンの一生成法(欠陥ベーステスト,VLSI設計とテスト及び一般)
- D-10-2 動的なオープン故障に対するテストパターン生成法(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
- 遷移故障に対する診断用テスト生成法(故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
- D-10-2 縮退故障テストを利用したオープン故障のテスト生成法(D-10.ディペンダブルコンピューティング,一般講演)
- STARCにおけるLSIの故障診断の先端研究(LSIのテスト・評価技術)