四柳 浩之 | 徳島大学大学院

スポンサーリンク

概要

• 同名の論文著者
• 徳島大学大学院の論文著者

関連著者

• 四柳 浩之

  徳島大学大学院

• 橋爪 正樹

  徳島大学大学院

• 四柳 浩之

  徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部

• 四柳 浩之

  徳島大学

• 橋爪 正樹

  徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部 情報ソリューション部門

• 為貞 建臣

  徳島大学工学部

• Yotsuyanagi Hiroyuki

  Faculty Of Engineering The Univ. Of Tokushima

• Yotsuyanagi Hiroyuki

  Dept. Of Information Solution Institute Of Technology And Science University Of Tokushima

• 為貞 建臣

  徳島大学

• 四柳 浩之

  徳島大学工学部電気電子工学科

• 四柳 浩之

  徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部情報ソリューション部門

• 橋爪 正樹

  徳島大学工学部

• 高橋 寛

  愛媛大学大学院

• 高橋 寛

  愛媛大学大学院理工学研究科

• 樋上 喜信

  愛媛大学大学院

• 樋上 喜信

  愛媛大学大学院理工学研究科

• 堤 利幸

  明治大学

• 山崎 浩二

  明治大学

• 山崎 浩二

  明治大学情報コミュニケーション学部

• 高橋 寛

  山形大 工

• 高松 雄三

  愛媛大学大学院理工学研究科

• 高松 雄三

  愛媛大学

• Takahashi Hiroshi

  The Authors Are With The Faculty Of Engineering Ehime University

• 高松 雄三

  愛媛大学大学院 理工学研究科

• 堤 利幸

  明治大学大学院理工学研究科

• 橋爪 正樹

  徳島大学

• 一宮 正博

  徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部

• 佐野 広和

  徳島大学工学部

• 山崎 浩二

  明治大学理工学部情報科学科

• 刈谷 泰由紀

  明治大学大学院理工学研究科

• 相京 隆

  半導体理工学研究センター(STARC)

• 藤本 佳照

  徳島大学大学工学部

• 為貞 建臣

  徳島大学大学工学部

• 槇本 浩之

  徳島大学大学院 先端技術科学教育部 システム創生工学専攻 電気電子創生工学コース

• 岡田 靖彦

  徳島大学大学院 先端技術科学教育部 システム創生工学専攻 電気電子創生工学コース

• 堤 利幸

  明治大学理工学部情報科学科

• 相京 隆

  愛媛大学大学院理工学研究科

• 橋爪 正樹

  徳島大学工学部電気電子工学科

• 為貞 建臣

  徳島大学工学部電気電子工学科

• 佐藤 匡司

  徳島大学工学部電気電子工学科

• 樹下 行三

  大阪大学大学院工学研究科応用物理専攻

• 相京 隆

  愛媛大学大学院 理工学研究科

• 堤 利幸

  明治大学理工学部

• 首藤 祐太

  愛媛大学大学院

• 高棟 佑司

  愛媛大学大学院

• 秦 豊

  徳島大学

• 三浦 幸也

  首都大学東京

• 小野 安季良

  詫間電波工業高等専門学校情報通信工学科

• 高木 正夫

  詫間電波工業高等専門学校電子工学科

• 渡部 哲也

  愛媛大学大学院

• 一宮 正博

  徳島大学工学部

• 樹下 行三

  大阪学院大学情報学部

• 樹下 行三

  大阪学院大 情報

• 岡田 靖彦

  徳島大学大学院先端技術科学教育部システム創生工学専攻電気電子創生工学コース

• 槇本 浩之

  徳島大学大学院先端技術科学教育部システム創生工学専攻電気電子創生工学コース

• 四柳 浩之

  徳島大学大学院 ソシオテクノサイエンス研究部 情報ソリューション部門

• 橋爪 正樹

  徳島大学大学院 ソシオテクノサイエンス研究部 情報ソリューション部門

• 小西 朝陽

  徳島大学大学院先端技術科学教育部

• 大家 隆弘

  徳島大学

• 森田 郁朗

  徳島大学工学部電気電子工学科

• 樽見 洋

  徳島大学大学院先端技術科学教育部

• 栗林 遼太

  徳島大学大学院先端技術科学教育部

• 門山 周平

  愛媛大学大学院

• 池 浩司

  徳島大学

• 清水 達也

  徳島大学

• 江崎 大輔

  徳島大学

• 西本 誠一

  徳島大学

• 月本 功

  詫間電波工業高等専門学校電子工学科

• 大家 隆弘

  徳島大学工学部電気電子工学科

• 相京 隆

  半導体理工学研究セ

• 田坂 英司

  三浦工業

• 大塚 隆弘

  徳島大学 工学部 電気電子工学科

• 山崎 浩二

  明治大学 理工学部 情報科学科

• 大家 隆弘

  徳島大 工

• 田坂 英司

  三浦工業株式会社

• 茅原 敏広

  三浦工業株式会社

• 四柳 浩之

  大阪大学大学院工学研究科応用物理学専攻

• 加藤 健二

  徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部

• Hashizume Masaki

  Dept. Of Information Solution Institute Of Technology And Science University Of Tokushima

• YAMAMOTO Masayuki

  Dept. of Information Solution, Institute of Technology and Science, University of Tokushima

• 茅原 敏広

  三浦工業

• Yamamoto Masayuki

  Dept. Of Information Solution Institute Of Technology And Science University Of Tokushima

• 小西 朝陽

  徳島大学

• 山下 淳

  大阪学院大学大学院コンピュータサイエンス研究科

• 堤 利幸

  明治大学 理工学部

• 樋上 喜信

  愛媛大学大学院 理工学研究科

• 山崎 浩二

  明治大学 情報コミュニケーション学部

• 四柳 浩之

  徳島大学大学院 先端技術科学教育部

• 中村 真規

  徳島大学大学院先端技術科学教育部 システム創生工学専攻 電気電子創生工学コース

• 橋爪 正樹

  徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部情報ソリューション部門

• 大栗 裕人

  徳島大学大学院先端技術科学教育部システム創生工学専攻電気電子創生工学コース

• 堤 利幸

  明治大学{理工学部,情報コミュニケーション学部

• 山崎 浩二

  明治大学{理工学部,情報コミュニケーション学部

• 樋上 善信

  愛媛大学大学院理工学研究科

• 大栗 裕人

  徳島大学大学院先端技術科学教育部システム創生工学専攻

• 櫻井 浩希

  徳島大学大学院先端技術科学教育部システム創生工学専攻電気電子創生工学コース

もっと見る 閉じる

著作論文

• 交流電界印加時の電流テストによるCMOS LSIのリード浮き検出のための印加交流電圧
• 抵抗性オープン故障のモデル化とそのテスト生成について (ディペンダブルコンピューティング)
• 故障励起関数を利用したオープン故障の診断法
• 抵抗性オープン故障のモデル化とそのテスト生成について(テスト生成,VLSI設計とテスト及び一般)
• TEGチップのデジタル測定によるオープン故障のモデル化の検討(故障モデル・故障許容・故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
• 故障励起関数を利用したオープン故障の診断法(ディペンダブルコンピューティング)
• D-10-12 抵抗ラダー型DACの電流テスト容易化設計(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
• D-10-13 多重縮退故障に対応するビアオープンとそのテスト生成についての一考察(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
• D-10-14 隣接線への論理値割当を行う断線故障検査用テスト生成(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
• CMOSゲート回路を断線センサとして用いた部品接合不良検出法
• 隣接信号線を考慮したオープン故障のテストパターンについて(欠陥ベーステスト,VLSI設計とテスト及び一般)
• TEGチップを用いたオープン故障の解析(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
• TEGチップを用いたオープン故障の解析(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
• TEGチップを用いたオープン故障の解析(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地-)
• オープン故障診断の性能向上について(設計/テスト/検証)
• 隣接信号線を考慮した動的なオープン故障に対する故障診断法(故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
• 多層配線LSI の断線故障検査に関する研究
• 論理IC実装時に発生する抵抗を伴うリード浮きに対する電流テスト能力評価
• D-10-8 スキャンツリー内のフリップフロップの配線法について(D-10.ディペンダブルコンピューティング,一般講演)
• C-12-12 時変電源電圧駆動ダイナミックCMOS時計回路の消費電力評価(C-12.集積回路B(ディジタル),エレクトロニクス2)
• C-12-3 電源電流によるZ80ピン間ブリッジ故障の実時間テスト(C-12.集積回路A(設計・テスト・実装技術),エレクトロニクス2)
• ばらつきを有するICで構成したTTL回路の電源電流による統計的断線故障検出法
• レイアウト情報を用いた故障候補エリアの抽出(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
• CMOS論理回路の発振を生じるICピン短絡故障検出回路(フォールトトレランス)
• CMOS論理ICの交流電界印加時の電源電流測定によるピン浮き検出法
• 断熱的ダイナミックCMOS論理回路用電源回路
• 断熱的ダイナミックCMOS論理回路用電源回路
• 断熱的ダイナミックCMOS論理回路用電源回路
• IEEE1149.1準拠IC間断線の電気検査法 (特集 次世代基板実装を支える検査技術)
• CMOSマイクロコンピュータ回路の電源電流によるブリッジ故障検出法
• レイアウト情報を用いた故障候補エリアの抽出(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
• レイアウト情報を用いた故障候補エリアの抽出(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
• レイアウト情報を用いた故障候補エリアの抽出(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
• 状態集合分割を用いる論理シミュレーションによる順序回路のテスト生成(VLSIの設計/検証/テスト及び一般テスト)
• 状態集合分割を用いる論理シミュレーションによる順序回路のテスト生成(VLSIの設計/検証/テスト及び一般 テスト)(デザインガイア2003 -VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
• 状態集合分割を用いる論理シミュレーションによる順序回路のテスト生成(VLSIの設計/検証/テスト及び一般 テスト)(デザインガイア2003 -VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
• 状態集合分割を用いる論理シミュレーションによる順序回路のテスト生成(VLSIの設計/検証/テスト及び一般 テスト)(デザインガイア2003 -VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
• 状態集合分割を用いる論理シミュレーションによる順序回路のテスト生成
• D-10-7 抵抗ラダー型DAC内MOS短絡の電流テスト容易化設計(D-10.ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
• 到達不能状態に基づく順序回路の冗長信号線の同時除去法
• フリップフロップ集合の分割による到達不能状態の探索法
• 到達不能状態に基づく順序回路の冗長信号線の同時除去法
• IEEE1149.1準拠IC間断線の電気検査法
• Scan Chain Ordering to Reduce Test Data for BIST-Aided Scan Test Using Compatible Scan Flip-Flops
• テストデータ量削減のための反転信号シフト型BAST構成とテストパターン生成法 (VLSI設計技術)
• テストデータ量削減のための反転信号シフト型BAST構成とテストパターン生成法 (ディペンダブルコンピューティング)
• TDCを組み込んだ遅延故障検出用テスト容易化設計について (ディペンダブルコンピューティング)
• TDCを組み込んだ遅延故障検出用テスト容易化設計について (VLSI設計技術)
• D-10-4 ESD入力保護能力を低下させないIC間断線の電気的検査用回路(D-10.ディペンダブルコンピューテイング,一般セッション)
• D-10-3 隣接線を考慮したパターン併合によるオープン故障用テストパターン生成(D-10.ディペンダブルコンピューテイング,一般セッション)
• TDCを組み込んだ遅延故障検出用テスト容易化設計について(テスト設計2,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
• テストデータ量削減のための反転信号シフト型BAST構成とテストパターン生成法(テスト設計1,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
• TDCを組み込んだ遅延故障検出用テスト容易化設計について(テスト設計2,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
• テストデータ量削減のための反転信号シフト型BAST構成とテストパターン生成法(テスト設計1,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
• オープン故障診断の性能向上について
• TDCを組み込んだ遅延故障検出用テスト容易化設計について
• テストデータ量削減のための反転信号シフト型BAST構成とテストパターン生成法
• テストデータ量削減のための反転信号シフト型BAST構成とテストパターン生成法
• TDCを組み込んだ遅延故障検出用テスト容易化設計について
• シグナルインティグリティ不良に対する実証的研究の試み(設計/テスト/検証)
• 3次元実装IC内ダイ間論理信号線の断線に対する電気テスト用回路(次世代電子機器を支える三次元積層技術と先端実装の設計・評価技術論文)
• 隣接TSVを考慮したTSV遅延故障検出法について(遅延テスト, VLSI設計とテスト及び一般)
• 半断線故障検出のための信号遅延の特性評価(遅延テスト, VLSI設計とテスト及び一般)
• TDC組込み型バウンダリスキャン回路による遅延検出能力評価(テスト容易化設計,VLSI設計とテスト及び一般)
• シグナルインティグリティ不良に対する実証的研究の試み

もっと見る 閉じる

スポンサーリンク