オープン故障診断の性能向上について
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 2008-06-13
著者
-
四柳 浩之
徳島大学大学院
-
橋爪 正樹
徳島大学大学院
-
相京 隆
愛媛大学大学院理工学研究科
-
高橋 寛
愛媛大学大学院
-
樋上 喜信
愛媛大学大学院
-
山崎 浩二
明治大学 理工学部 情報科学科
-
高松 雄三
愛媛大学大学院 理工学研究科
-
堤 利幸
明治大学 理工学部
-
相京 隆
愛媛大学大学院 理工学研究科
-
樋上 喜信
愛媛大学大学院 理工学研究科
-
山崎 浩二
明治大学 情報コミュニケーション学部
-
四柳 浩之
徳島大学大学院 先端技術科学教育部
関連論文
- 交流電界印加時の電流テストによるCMOS LSIのリード浮き検出のための印加交流電圧
- 抵抗性オープン故障のモデル化とそのテスト生成について (ディペンダブルコンピューティング)
- 2ZA-5 携帯電話を利用した個人向け情報配信システムにおける情報のランク付け(情報社会を支える技術(1),学生セッション,コンピュータと人間社会)
- 携帯電話を利用した個人向け情報配信システムの開発(携帯端末・ユビキタスネットワーク)
- 2ZA-2 個人向け情報配信システムにおける文字情報のフィルタリングに関する研究(情報社会を支える技術(1),学生セッション,コンピュータと人間社会)
- ネットワークコーディングを用いた光グリッドネットワーク(ネットワーク管理・設計,無線)
- 光グリッドネットワークにおけるネットワークコーディングを用いたファイル配置法(ルーチング,コンテンツ配信,ルーチングシステム(適応ルーチング,QoSルーチング,マルチキャスト),ネットワークアプリケーション(IP-TV,ストリーミング,Web2.0),一般)
- D-10-3 スキャン回路におけるクロストーク故障の検出可能性について(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
- D-10-1 ハードウエアテスト生成ツールを用いた組み込みシステムのテストケース生成について(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
- ゲートレベルを用いたトランジスタショートに対するテスト生成法(セッション3 : テスト生成, VLSI設計とテスト及び一般)
- 組合せ回路および順序回路に対する検出・非検出情報に基づく診断用テスト圧縮法(テスト容易化設計,システムLSI設計とその技術)
- 組合せ回路および順序回路に対する診断用テスト圧縮法(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト技術)
- 順序回路に対するテスト系列中のドントケア値発見とテスト圧縮・消費電力削減への応用について(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
- 順序回路に対するテスト系列中のドントケア値発見とテスト圧縮・消費電力削減への応用について
- 一般ユーザを対象とした自律負荷分散方式利用コマンドの実装
- 故障励起関数を利用したオープン故障の診断法
- 光グリッドネットワークにおける波長資源を考慮した複製選択及び転送手法(ネットワークシステム関連技術,一般,高度プロトコル・ネットワーキング技術(IP及び高位レイヤルーチング・フィルタリング,マルチキャスト,品質・経路制御),IPNWの利用技術(P2P,P4P,オーバレイ,SIP,NGN),ネットワークシステム関連技術(システム構成法,インタフェース,アーキテクチャ,ハードウェア・ソフトウェア・ミドルウェア),一般)
- 光グリッドネットワークにおけるトラヒック種別を考慮したスケジューリング手法(ネットワークソフトウエア(ソフトウエアアーキテクチャ,ミドルウエア),NWアプリケーション,SOA/SDP,NGN/IMS/API,分散制御・ダイナミックルーチング,グリッド,NW及びシステム信頼性,NW及びシステム評価,一般)
- 抵抗性オープン故障のモデル化とそのテスト生成について(テスト生成,VLSI設計とテスト及び一般)
- TEGチップのデジタル測定によるオープン故障のモデル化の検討(故障モデル・故障許容・故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
- 学生証による出席管理のためのICカードリーダーの試作
- 故障励起関数を利用したオープン故障の診断法(ディペンダブルコンピューティング)
- D-10-12 抵抗ラダー型DACの電流テスト容易化設計(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
- D-10-13 多重縮退故障に対応するビアオープンとそのテスト生成についての一考察(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
- D-10-14 隣接線への論理値割当を行う断線故障検査用テスト生成(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
- CMOSゲート回路を断線センサとして用いた部品接合不良検出法
- 隣接信号線を考慮したオープン故障のテストパターンについて(欠陥ベーステスト,VLSI設計とテスト及び一般)
- TEGチップを用いたオープン故障の解析(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
- TEGチップを用いたオープン故障の解析(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
- TEGチップを用いたオープン故障の解析(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地-)
- オープン故障診断の性能向上について(設計/テスト/検証)
- 隣接信号線を考慮した動的なオープン故障に対する故障診断法(故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
- 多層配線LSI の断線故障検査に関する研究
- 論理IC実装時に発生する抵抗を伴うリード浮きに対する電流テスト能力評価
- D-10-8 スキャンツリー内のフリップフロップの配線法について(D-10.ディペンダブルコンピューティング,一般講演)
- C-12-12 時変電源電圧駆動ダイナミックCMOS時計回路の消費電力評価(C-12.集積回路B(ディジタル),エレクトロニクス2)
- C-12-3 電源電流によるZ80ピン間ブリッジ故障の実時間テスト(C-12.集積回路A(設計・テスト・実装技術),エレクトロニクス2)
- ばらつきを有するICで構成したTTL回路の電源電流による統計的断線故障検出法
- レイアウト情報を用いた故障候補エリアの抽出(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
- 隣接信号線を考慮したオープン故障の一モデルとその故障診断(BISTと故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
- 検出/非検出情報に基づく複数故障モデルに対する故障診断法(故障診断, VLSI 設計とテスト及び一般)
- 検出/非検出情報に基づくオープン故障診断への誤り経路追跡法の適用(故障診断, VLSI 設計とテスト及び一般)
- 不確かなテスト集合の検出/非検出情報に基づくオープン故障の診断法(BIST と故障診断, VLSI 設計とテスト及び一般)
- 不確かなテスト集合の検出/非検出情報に基づくブリッジ故障の診断法(BIST と故障診断, VLSI 設計とテスト及び一般)
- 不確かなテスト集合によるブリッジ故障診断(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
- 不確かなテスト集合によるブリッジ故障診断(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 不確かなテスト集合によるブリッジ故障診断(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 論理回路の故障診断法 : 外部出力応答に基づく故障箇所指摘法の発展(ディペンダブルコンピューティング)
- CMOS論理回路の発振を生じるICピン短絡故障検出回路(フォールトトレランス)
- CMOS論理ICの交流電界印加時の電源電流測定によるピン浮き検出法
- 検出可能な遅延故障サイズを考慮した遅延故障診断法(ディペンダブルコンピューティング)
- 縮退故障用ATPGを用いた遷移故障の診断用テスト生成法(設計/テスト/検証,設計/テスト/検証)
- D-10-19 遅延故障シミュレーションに基づく欠陥診断(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
- 組合せ回路に対する欠陥考慮テストパターンの一生成法(欠陥ベーステスト,VLSI設計とテスト及び一般)
- D-10-2 動的なオープン故障に対するテストパターン生成法(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
- 遷移故障に対する診断用テスト生成法(故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
- D-10-2 縮退故障テストを利用したオープン故障のテスト生成法(D-10.ディペンダブルコンピューティング,一般講演)
- 断熱的ダイナミックCMOS論理回路用電源回路
- 断熱的ダイナミックCMOS論理回路用電源回路
- 断熱的ダイナミックCMOS論理回路用電源回路
- IEEE1149.1準拠IC間断線の電気検査法 (特集 次世代基板実装を支える検査技術)
- CMOSマイクロコンピュータ回路の電源電流によるブリッジ故障検出法
- レイアウト情報を用いた故障候補エリアの抽出(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- レイアウト情報を用いた故障候補エリアの抽出(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- レイアウト情報を用いた故障候補エリアの抽出(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 状態集合分割を用いる論理シミュレーションによる順序回路のテスト生成(VLSIの設計/検証/テスト及び一般テスト)
- 状態集合分割を用いる論理シミュレーションによる順序回路のテスト生成(VLSIの設計/検証/テスト及び一般 テスト)(デザインガイア2003 -VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 状態集合分割を用いる論理シミュレーションによる順序回路のテスト生成(VLSIの設計/検証/テスト及び一般 テスト)(デザインガイア2003 -VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 状態集合分割を用いる論理シミュレーションによる順序回路のテスト生成(VLSIの設計/検証/テスト及び一般 テスト)(デザインガイア2003 -VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 状態集合分割を用いる論理シミュレーションによる順序回路のテスト生成
- D-10-7 抵抗ラダー型DAC内MOS短絡の電流テスト容易化設計(D-10.ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
- D-10-8 活性化経路評価関数に基づくパターン選択(D-10.ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
- 到達不能状態に基づく順序回路の冗長信号線の同時除去法
- フリップフロップ集合の分割による到達不能状態の探索法
- 到達不能状態に基づく順序回路の冗長信号線の同時除去法
- IEEE1149.1準拠IC間断線の電気検査法
- 欠陥検出テストのためのテストパターン選択(テスト生成,VLSI設計とテスト及び一般)
- Scan Chain Ordering to Reduce Test Data for BIST-Aided Scan Test Using Compatible Scan Flip-Flops
- テストデータ量削減のための反転信号シフト型BAST構成とテストパターン生成法 (VLSI設計技術)
- テストデータ量削減のための反転信号シフト型BAST構成とテストパターン生成法 (ディペンダブルコンピューティング)
- TDCを組み込んだ遅延故障検出用テスト容易化設計について (ディペンダブルコンピューティング)
- TDCを組み込んだ遅延故障検出用テスト容易化設計について (VLSI設計技術)
- D-10-4 ESD入力保護能力を低下させないIC間断線の電気的検査用回路(D-10.ディペンダブルコンピューテイング,一般セッション)
- D-10-3 隣接線を考慮したパターン併合によるオープン故障用テストパターン生成(D-10.ディペンダブルコンピューテイング,一般セッション)
- TDCを組み込んだ遅延故障検出用テスト容易化設計について(テスト設計2,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
- テストデータ量削減のための反転信号シフト型BAST構成とテストパターン生成法(テスト設計1,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
- TDCを組み込んだ遅延故障検出用テスト容易化設計について(テスト設計2,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
- テストデータ量削減のための反転信号シフト型BAST構成とテストパターン生成法(テスト設計1,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
- オープン故障診断の性能向上について
- TDCを組み込んだ遅延故障検出用テスト容易化設計について
- テストデータ量削減のための反転信号シフト型BAST構成とテストパターン生成法
- テストデータ量削減のための反転信号シフト型BAST構成とテストパターン生成法
- TDCを組み込んだ遅延故障検出用テスト容易化設計について
- シグナルインティグリティ不良に対する実証的研究の試み(設計/テスト/検証)
- バンダリスキャンテスト実行時のIC内部の擾乱(研究速報)
- 3次元実装IC内ダイ間論理信号線の断線に対する電気テスト用回路(次世代電子機器を支える三次元積層技術と先端実装の設計・評価技術論文)
- 隣接TSVを考慮したTSV遅延故障検出法について(遅延テスト, VLSI設計とテスト及び一般)
- 半断線故障検出のための信号遅延の特性評価(遅延テスト, VLSI設計とテスト及び一般)
- TDC組込み型バウンダリスキャン回路による遅延検出能力評価(テスト容易化設計,VLSI設計とテスト及び一般)
- シグナルインティグリティ不良に対する実証的研究の試み