論理IC実装時に発生する抵抗を伴うリード浮きに対する電流テスト能力評価

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概要

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• エレクトロニクス実装学会の論文
• 2007-09-13

著者

• 四柳 浩之

  徳島大学大学院

• 小野 安季良

  詫間電波工業高等専門学校情報通信工学科

• 一宮 正博

  徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部

• 四柳 浩之

  徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部

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