レイアウト情報を用いた故障候補エリアの抽出(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
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概要
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本論文では,CADによるレイアウト情報を用いた故障候補エリアの抽出について述べる.集積度の高い回路においては,ブリッジ故障が2線間のみならず複数信号線に影響をもたらす可能性がある.本研究では,2信号線間のブリッジ故障と3信号線間のブリッジ故障を仮定し,その故障候補エリアの抽出法を提案する.本手法では,信号線間の距離が,ある一定間隔内である信号線の組をブリッジ故障候補とし,その間隔内に存在する3つの信号線の組を複数信号線間ブリッジ故障候補として抽出する.CADツールより得られるレイアウト情報から,2信号線間および,3信号線間のブリッジ故障候補エリアの抽出を行う手法について提案し,ベンチマーク回路に対するブリッジ故障候補エリア抽出実験から得られた故障候補エリア数とゲートレベルにて仮定される2線間のブリッジ故障数との比較結果を示す.
- 社団法人情報処理学会の論文
- 2004-12-01
著者
-
四柳 浩之
徳島大学大学院
-
橋爪 正樹
徳島大学大学院
-
為貞 建臣
徳島大学
-
藤本 佳照
徳島大学大学工学部
-
為貞 建臣
徳島大学大学工学部
-
橋爪 正樹
徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部 情報ソリューション部門
-
為貞 建臣
徳島大学工学部
-
四柳 浩之
徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部
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