CMOS SRAMの書き込み時静的電源電流測定による故障検出法
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概要
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CMOS SRAMの書き込み時静的電源電流測定による故障検出法を提案し、その故障検出能力評価を調べるため故障検出実験を行った。その実験では本手法で論理値変化を生じるすべての故障ICを検出できなかった。しかし本手法は大幅に検査入力数を減らすことができ、さらに故障ICの約60%は本手法で検出できことから、機能検査の予備テストとして利用すれば、高速に機能検査が行えることがわかった。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1994-11-24
著者
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