論理ゲートの電源電流値のばらつきを考慮する電流テスト法
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概要
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本稿では、論理回路内の論理ゲートの静的電源電流値にばらつきが発生した場合にでも適用可能な電流テスト法を提案している.そのテスト法ではそのばらつきをガウス分布でモデル化し,有意差検定により正常回路の電流分布との差を検出している.本稿ではTTL-LS形SSIを用いてプリン卜基板上に実現したISCAS-85ベンチマーク回路における各信号線の単一断線故障の検出が試みられている.それにより,静的電源電流値のばらつきが大きくなるにつれて電流テストでは故障検出が困難となること,さらに電流テストを有効なものとするためには電源電流特性のばらつきを小さくする必要があることが示されている.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1997-02-13
著者
-
橋爪 正樹
徳島大学工学部
-
為貞 建臣
徳島大学工学部
-
口井 敏匡
徳島大学工学部電気電子工学科
-
橋爪 正樹
徳島大学 工学部電気電子工学科
-
赤沢 英治
徳島大学 工学部電気電子工学科
-
口井 敏匡
徳島大学 工学部電気電子工学科
-
為貞 建臣
徳島大学 工学部電気電子工学科
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