TTL組合せ回路の電流テストのための検査入力生成法
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概要
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本稿では,TTLゲート内部に発生する短絡・断線故障に対する電流テストのための故障モデルと,その検査入力生成法を提案している.また,その検査入力生成法を,TTLゲートを用いてIC内に実現したISCAS-85ベンチマーク回路に適用し,検査入力の導出を行っている.その検査入力生成では,はじめにランダム手法を適用し,ランダム手法で検査入力が得られなかった故障に対してアルゴリズム手法を適用している.それにより,TTLゲート内の検出対象故障の97%の故障に対して検査入力が導出できることが示されている.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1997-02-13
著者
-
橋爪 正樹
徳島大学工学部
-
為貞 建臣
徳島大学工学部
-
口井 敏匡
徳島大学工学部電気電子工学科
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橋爪 正樹
徳島大学 工学部電気電子工学科
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口井 敏匡
徳島大学 工学部電気電子工学科
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為貞 建臣
徳島大学 工学部電気電子工学科
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