電流テストによる論理回路のブリッジ故障検出のための検査容易化設計法
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概要
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電源から論理回路に供給される電源電流を測定し、論理回路内の故障を検出する検査法は電流テストと呼ばれている。本稿では、論理回路内の論理ゲートの入出力信号線間に発生したブリッジ故障を、電流テストにより検出するための検査容易化設計法を提案している。またその検査容易化設計法をTTLゲートで実現したISCAS-85ベンチマーク回路に対し適用している。それにより、提案している手法を用いることで、電源電流測定用端子が増加するものの、従来の外部出力信号線の論理値測定による検査法に比べ、ブリッジ故障の検出が著しく容易に行えることが示されている。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1996-03-07
著者
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