状態集合分割を用いる論理シミュレーションによる順序回路のテスト生成(VLSIの設計/検証/テスト及び一般テスト)
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概要
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本論文では,状態集合分割を用いた理論シミュレーションによるテスト生成について述べる.本研究で行うテスト生成では,複数の候補ベクトルを作成し,未到達状態へ遷移可能なベクトルをテストベクトルとして採用する.故障検出に有効な状態遷移を得るために,フリップフロップを複数の集合に分割し,重み付きによる状態変化の優先度の設定を行う.状態集合の分割法として,フリップフロップの論理値の制御容易性に基づく分割法と,未検出故障への影響の大きいフリップフロップを回路構造から求めた集合分割を行う手法の2つを用いる.本研究では各未検出故障の励起,伝搬に必要なフリップフロップを考慮した集合分割を用いることで,未検出故障の検出に必要な状態遷移を優先する.提案する集合分割法をテスト生成に適用した研究報告結果により,集合分割法の有効性について示す.
- 一般社団法人情報処理学会の論文
- 2003-11-27
著者
-
四柳 浩之
徳島大学大学院
-
橋爪 正樹
徳島大学大学院
-
為貞 建臣
徳島大学
-
四柳 浩之
徳島大学工学部電気電子工学科
-
橋爪 正樹
徳島大学工学部
-
為貞 建臣
徳島大学工学部
-
佐野 広和
徳島大学工学部
-
四柳 浩之
徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部
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