テストデータ量削減のための反転信号シフト型BAST構成とテストパターン生成法(テスト設計1,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
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概要
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スキャンベースBISTの技術を応用した手法として,BIST内部で発生する擬似乱数パターンをインバータブロックで反転し,ATPGパターンを回路に印加することで高い故障検出率を得ることができるBAST(BIST-Aided Scan Test)が提案されている.本稿では,テストデータ量削減のための反転信号シフト可能な反転信号型BAST構成とテストパターン生成法を提案する.提案手法は,両立FF集合に同値を割り当てる制約の下でテストパターンを生成することで,ATPGパターンの相関関係とLFSRの相関関係と一致しやすくなり,テストデータ量の削減が可能である.ISCAS89,ITC99ベンチマーク回路を対象回路として,提案手法のテストデータ量削減効果を評価する.
- 2011-11-21
著者
-
四柳 浩之
徳島大学大学院
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橋爪 正樹
徳島大学大学院
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四柳 浩之
徳島大学
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四柳 浩之
徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部
-
Yotsuyanagi Hiroyuki
Faculty Of Engineering The Univ. Of Tokushima
-
Yotsuyanagi Hiroyuki
Dept. Of Information Solution Institute Of Technology And Science University Of Tokushima
-
岡田 靖彦
徳島大学大学院先端技術科学教育部システム創生工学専攻電気電子創生工学コース
-
岡田 靖彦
徳島大学大学院 先端技術科学教育部 システム創生工学専攻 電気電子創生工学コース
-
四柳 浩之
徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部情報ソリューション部門
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