CMOSマイクロコンピュータ回路の電源電流によるブリッジ故障検出法
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概要
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CMOSマイクロプロセッサを用いてプリント配線板上に実現したマイクロコンピュータに発生するブリッジ故障を検査プログラム実行時の電源電流測定により検出する検査法を,本論文では提案している。その検査法を商用のボイラ制御用マイクロコンピュータ回路の検査に適用し,使用ICの隣合う2本のピン間の単一ブリッジ故障の98.7%を検査時間326msecで検出できることを実験で明らかにしている。また,本検査法での検査時に実行させる検査プログラムの開発支援ツールがマイクロプロセッサのデータシート内で公開されているタイミングチャートを利用して開発できることも明らかにしている。
- 社団法人エレクトロニクス実装学会の論文
- 2003-11-01
著者
-
大家 隆弘
徳島大学
-
四柳 浩之
徳島大学大学院
-
橋爪 正樹
徳島大学大学院
-
森田 郁朗
徳島大学工学部電気電子工学科
-
為貞 建臣
徳島大学
-
四柳 浩之
徳島大学工学部電気電子工学科
-
大家 隆弘
徳島大学工学部電気電子工学科
-
橋爪 正樹
徳島大学工学部
-
為貞 建臣
徳島大学工学部
-
田坂 英司
三浦工業
-
大塚 隆弘
徳島大学 工学部 電気電子工学科
-
大家 隆弘
徳島大 工
-
田坂 英司
三浦工業株式会社
-
茅原 敏広
三浦工業株式会社
-
四柳 浩之
徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部
-
茅原 敏広
三浦工業
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