TEGチップのデジタル測定によるオープン故障のモデル化の検討(故障モデル・故障許容・故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
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概要
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LSIの微細化に伴い,LSIテストにおけるオープン故障への対策の重要性が増してきている.しかし,オープン故障の実用的なモデル化はいまだなされていない.そこで,我々はオープン故障を組み込んだTEG(Test Element Group)チップを作製し,その測定データに基づいたオープン故障のモデル化に取り組んでいる.本稿では,オープン故障のモデル化の検討を行う.TEGチップのデジタル測定データから,RCGA(実数値遺伝的アルゴリズム)を用いて近接信号線が故障信号線へ与える影響度の強さを算出する手法を提案する.RCGAを用いたデジタルデータに基づくモデル式は,TEGチップ内の構造におけるオープン故障信号線の論理値をほぼ模擬可能であること,および構造を仮定しない場合でも同様に高い性能が得られることを示す.また,提案する手法によって得た近接信号線の強さを平均化することによりモデルの簡易化を試み,有効性を確認した.
- 2010-02-08
著者
-
山崎 浩二
明治大学情報コミュニケーション学部
-
樋上 喜信
愛媛大学大学院理工学研究科
-
高橋 寛
愛媛大学大学院理工学研究科
-
高松 雄三
愛媛大学大学院理工学研究科
-
堤 利幸
明治大学大学院理工学研究科
-
堤 利幸
明治大学
-
四柳 浩之
徳島大学大学院
-
橋爪 正樹
徳島大学大学院
-
刈谷 泰由紀
明治大学大学院理工学研究科
-
高松 雄三
愛媛大学
-
山崎 浩二
明治大学
-
高橋 寛
愛媛大学大学院
-
樋上 喜信
愛媛大学大学院
-
橋爪 正樹
徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部 情報ソリューション部門
-
高橋 寛
山形大 工
-
四柳 浩之
徳島大学
-
四柳 浩之
徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部
-
Yotsuyanagi Hiroyuki
Faculty Of Engineering The Univ. Of Tokushima
-
Yotsuyanagi Hiroyuki
Dept. Of Information Solution Institute Of Technology And Science University Of Tokushima
-
Takahashi Hiroshi
The Authors Are With The Faculty Of Engineering Ehime University
-
高松 雄三
愛媛大学大学院 理工学研究科
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