多重外部出力検出テスト生成方法(テスト生成, VLSI 設計とテスト及び一般)
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
高品質なテスト生成手法の1つとして, n回検出テストが知られている.しかし, n回検出の定義に従ってテスト生成を行った場合, テスト品質の向上に寄与しないテストが多数生成されうる.そこで, より多くの信号線が活性化されるようなテスト生成手法を用いることによって, テスト品質の更なる向上が可能になる.本稿では, テスト品質向上のアプローチとして, 活性化される信号線の数に着目し, 新たなテスト品質の評価尺度(活性化率)を提案する.また, 活性化率を向上させるためのテスト生成手法として, 多重外部出力検出テスト生成手法(MPOD)を提案する.ISCAS'85ベンチマーク回路による計算機実験により, 活性化率の向上がテスト品質の向上に反映されることを示し, MPODで生成されたテスト集合の有効性を示す.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2005-02-11
著者
関連論文
- 故障励起関数を利用したオープン故障の診断法
- マルチサイクルキャプチャ遷移故障テスト生成を用いたテスト不可能故障の原因解析(テスト生成,VLSI設計とテスト及び一般)
- 演算器順序深度削減指向テスト容易化バインディング法(高位レベルテスト・検証,VLSI設計とテスト及び一般)
- 遷移故障テスト圧縮指向制御ポイント挿入法(遅延故障テスト,VLSI設計とテスト及び一般)
- 抵抗性オープン故障のモデル化とそのテスト生成について(テスト生成,VLSI設計とテスト及び一般)
- RSA暗号回路の安全なテスト容易化設計(テストII,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地-)
- TEGチップのデジタル測定によるオープン故障のモデル化の検討(故障モデル・故障許容・故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
- 故障励起関数を利用したオープン故障の診断法(ディペンダブルコンピューティング)
- 隣接信号線を考慮したオープン故障のテストパターンについて(欠陥ベーステスト,VLSI設計とテスト及び一般)
- TEGチップを用いたオープン故障の解析(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
- TEGチップを用いたオープン故障の解析(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
- TEGチップを用いたオープン故障の解析(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地-)
- オープン故障診断の性能向上について(設計/テスト/検証)
- 隣接信号線を考慮した動的なオープン故障に対する故障診断法(故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
- ランダムパターンレジスタント故障検出用ドントケア抽出を用いたBASTアーキテクチャにおけるテストパターンマッチング法(設計/テスト/検証)
- 隣接信号線を考慮したオープン故障の一モデルとその故障診断(BISTと故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
- 検出/非検出情報に基づく複数故障モデルに対する故障診断法(故障診断, VLSI 設計とテスト及び一般)
- 検出/非検出情報に基づくオープン故障診断への誤り経路追跡法の適用(故障診断, VLSI 設計とテスト及び一般)
- 不確かなテスト集合の検出/非検出情報に基づくオープン故障の診断法(BIST と故障診断, VLSI 設計とテスト及び一般)
- 不確かなテスト集合の検出/非検出情報に基づくブリッジ故障の診断法(BIST と故障診断, VLSI 設計とテスト及び一般)
- 不確かなテスト集合によるブリッジ故障診断(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
- 不確かなテスト集合によるブリッジ故障診断(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 不確かなテスト集合によるブリッジ故障診断(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 不確かなテスト集合によるブリッジ故障診断(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- Pass/Fail情報を用いた単一ブリッジ故障の診断における診断テストと故障モデルの関係(VLSI設計とテスト)
- CPLDのPLAブロックにおけるクロスポイント故障および縮退故障の診断法
- テストパターンの静的圧縮における厳密解と貧欲解の比較(上流テスト・テスト圧縮,VLSI設計とテスト及び一般)
- 論理回路の故障診断法 : 外部出力応答に基づく故障箇所指摘法の発展(ディペンダブルコンピューティング)
- RSA暗号回路の安全なテスト容易化設計(テストII,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地)
- テスト圧縮指向ドントケア抽出法(テストII,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地)
- テスト圧縮指向ドントケア抽出法(テストII,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地-)
- テスト不可能故障の検出数の削減のためのスキャンテスト生成法(システムレベル設計,システム設計及び一般)
- スキャンテストにおけるテスト不可能故障の検出を削減するためのテスト生成法(テスト生成,VLSI設計とテスト及び一般)
- SATを用いたATPG困難故障に対する冗長故障判定の高速化(テスト生成,VLSI設計とテスト及び一般)
- 検出容易故障に着目したドントケア数増加手法 : BASTアーキテクチャへの適用(スキャンテスト・テスト容易化高位合成,VLSI設計とテスト及び一般)
- マルチサイクルキャプチャテストを用いたフルスキャン設計回路の縮退故障テスト生成(スキャンテスト,VLSI設計とテスト及び一般)
- テスト生成における決定ノードの有効性解析(セッション3 : テスト生成, VLSI設計とテスト及び一般)
- ATPGパターン数削減指向テストポイント挿入方法
- 動作記述を用いた順序テスト生成およびテスト容易化バインディング(高位設計2,デザインガイア2010-VLSI設計の新しい大地-)
- 動作記述を用いた順序テスト生成およびテスト容易化バインディング(高位設計2,デザインガイア2010-VLSI設計の新しい大地-)
- CMOS回路における短絡故障の一モデルとそのテスト生成法
- キャプチャ時消費電力指向テスト生成における検出疑似外部出力決定法(テスト設計1,デザインガイア2010-VLSI設計の新しい大地-)
- キャプチャ時消費電力指向テスト生成における検出疑似外部出力決定法(テスト設計1,デザインガイア2010-VLSI設計の新しい大地-)
- 時間展開モデルを用いた無閉路順序回路のテスト系列圧縮方法 (テストと設計検証論文特集)
- 時間展開モデルを用いた無閉鎖順序回路のテスト系列圧縮について
- 時間展開モデルを用いた無閉路順序回路のテスト系列圧縮について
- 時間展開モデルを用いた無閉鎖順序回路のテスト系列圧縮について
- ドントケア抽出を用いた縮退故障テストの遷移故障検出率向上手法(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
- ドントケア抽出を用いた縮退故障テストの遷移故障検出率向上手法(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
- ドントケア抽出を用いた縮退故障テストの遷移故障検出率向上手法(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地-)
- テスト長制約下での欠陥検出率向上のための状態可観測なFSMのテスト生成法(上流テスト・テスト圧縮,VLSI設計とテスト及び一般)
- 状態可観測なFSMの故障非依存/依存テスト生成法(上流DFT,VLSI設計とテスト及び一般)
- ソフトウエアシミュレーションによるシステムLSI設計・検証ツールの評価
- CPLDのPLAブロックにおけるクロスポイント故障および縮退故障の診断法
- 多重外部出力検出テスト生成方法(テスト生成, VLSI 設計とテスト及び一般)
- SoCのテスト実行時間最短化を目標としたコアのDFT選択手法(VLSI設計とテスト)
- 故障活性化率向上のための可変n回テスト生成法とその品質評価に関する研究(スキャンテスト,VLSI設計とテスト及び一般)
- 故障活性化率向上のためのn回検出テスト生成法(ディペンダブルコンピューティング研究専門委員会推薦論文,ディペンダブルコンピューティング)
- 正当化経路に着目した故障診断向きテスト生成に関する一考察(セッション2 : 故障シミュレーションと故障診断, VLSI設計とテスト及び一般)
- n 回検出テストの故障診断に対する有用性に関する一考察(故障診断, VLSI 設計とテスト及び一般)
- 論理回路の故障診断法 : 外部出力応答に基づく故障箇所指摘法の発展
- 機能的時間展開モデルを用いたデータパス回路のテスト生成法(テスト生成,VLSI設計とテスト及び一般)
- 製造ばらつきを考慮したフィールドテストのためのクリティカルパス解析(フィールドテスト・製造ばらつき,VLSI設計とテスト及び一般)
- ホールド制御削減のための階層テスト容易化設計法(上流 DFT, VLSI 設計とテスト及び一般)
- 強可検査性に基づくデータパスのテストプラン生成アルゴリズムの改良について(VLSIの設計/検証/テスト及び一般テスト)
- 強可検査性に基づくデータパスのテストプラン生成アルゴリズムの改良について(VLSIの設計/検証/テスト及び一般 テスト)(デザインガイア2003 -VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 強可検査性に基づくデータパスのテストプラン生成アルゴリズムの改良について(VLSIの設計/検証/テスト及び一般 テスト)(デザインガイア2003 -VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 強可検査性に基づくデータパスのテストプラン生成アルゴリズムの改良について(VLSIの設計/検証/テスト及び一般 テスト)(デザインガイア2003 -VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- キャプチャ時消費電力指向テスト生成における検出疑似外部出力決定法
- 状態可観測な不完全記述 FSM の機能テスト法(上流 DFT, VLSI 設計とテスト及び一般)
- 組合せATPGに基づくRTレベル部分スキャン設計法
- ケアビット分布制御ドントケア抽出 : キャプチャ消費電力削減への適用(設計/テスト/検証)
- VLSIの製造バラつきと経年劣化を考慮したアダプティブフィールドテストにおけるパス選択結果における一考察(設計/テスト/検証)
- 故障活性化率向上指向ドントケア割当て法の評価 (ディペンダブルコンピューティング)
- VLSIの製造バラつきと経年劣化を考慮したアダプティブフィールドテストにおけるパス選択法に関する考察(テスト設計2,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
- VLSIの製造バラつきと経年劣化を考慮したアダプティブフィールドテストにおけるパス選択法に関する考察(テスト設計2,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
- BASTにおけるテストデータ量を削減するためのスキャンチェインの接続法(テスト設計1,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
- BASTにおけるテストデータ量を削減するためのスキャンチェインの接続法(テスト設計1,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
- AES暗号回路におけるトロイ設計の影響評価(回路設計・ハードウェアトロイ設計,VLSI設計とテスト及び一般)
- 制御ポイント挿入による遷移故障テストパターン削減法(テスト生成・レスト容易化設計,VLSI設計とテスト及び一般)
- 制御ポイント挿入による遷移故障テストパターン削減法
- VLSIの製造バラつきと経年劣化を考慮したアダプティブフィールドテストにおけるパス選択法に関する考察
- VLSIの製造バラつきと経年劣化を考慮したアダプティブフィールドテストにおけるパス選択法に関する考察
- BASTにおけるテストデータ量を削減するためのスキャンチェインの接続法
- AES暗号回路におけるトロイ設計の影響評価
- BASTにおけるテストデータ量を削減するためのスキャンチェインの接続法
- 故障活性化率向上指向ドントケア割当て法の評価(設計/テスト/検証)
- テスト圧縮効率化のためのテスト生成に関する一考察(テスト,デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-)
- テスト圧縮効率化のためのテスト生成に関する一考察(テスト,デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-)
- 遷移故障テストパターンに基づいた故障活性化率向上指向ドントケア割当て法(テスト,デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-)
- 遷移故障テストパターンに基づいた故障活性化率向上指向ドントケア割当て法(テスト,デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-)
- 情報教育と情報入試:11.情報入試で求める人材とは -文系学部の場合-
- AES暗号回路におけるトロイ回路設計の影響評価およびその一考察(セキュリティとテスト, VLSI設計とテスト及び一般)
- 縮退故障テスト集合と遷移故障テスト集合を用いた欠陥検出能力向上のためのドントケア割当て法(欠陥検出能力評価, VLSI設計とテスト及び一般)
- データパス回路の機能的k時間展開モデル生成のためのコントローラ拡大法(設計/テスト/検証)