状態可観測なFSMの故障非依存/依存テスト生成法(上流DFT,VLSI設計とテスト及び一般)
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概要
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スキャンテストは,VLSIのテスト方式として広く普及しているが,回路構造の情報のみを利用してテスト生成を行っているので、オーバーテストを行っているとともにアンダーテストであるとも考えられる.一方,VLSIのテスト品質を向上させるために,ディレイテストや実動作速度機能テストが有効であることが知られている.FSMは回路仕様が明に記述されているので,この回路仕様の範囲内で論理テストやタイミングテストを行うことにより,品質の高いテストが期待できる.本論文では,FSMの状態が観測できるようにテスト容易化設計を施した,状態可観測なFSMを対象とした故障モデル非依存なテスト生成法と故障モデル依存テスト生成法を提案する.それらのテスト生成法は,論理テストを対象とした1パターンテストと,タイミングテストを対象とした2パターンテストに基づいている.MCNC'91ベンチマーク回路に対して本提案法を適用した結果,従来法と比較して平均13.7%のテスト長の増加で,面積を13.2%削減し,1-状態遷移被覆率を4.1倍向上させることができた.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2006-02-10
著者
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