固定制御可検査性に基づくRTL回路の非スキャンテスト容易化設計法
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概要
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本論文では、階層テスト生成が容易なデータパスの性質として固定制御可検査性を新しく定義し、それに基づくレジスタ転送レベル回路のテスト容易化設計法を提案する。提案手法では、組合せテスト生成法を用いた階層テスト生成及び非スキャン設計に基づいているため、テスト生成時間及びテスト実行時間を完全スキャン設計法に比べて大幅に短縮でき、実動作速度でのテスト(at-speed test)が可能で、完全故障検出効率を保証することができる。更に、ベンチマーク回路を用いた実験により提案手法の有効性を示す。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2001-05-01
著者
-
藤原 秀雄
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
-
大竹 哲史
奈良先端科学技術大学院大学,情報科学研究科
-
大竹 哲史
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科:科学技術振興機構 Crest
-
和田 弘樹
株式会社日立製作所中央研究所システムlsi研究部
-
和田 弘樹
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
-
永井 慎太郎
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科
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