大竹 哲史 | 奈良先端科学技術大学院大学,情報科学研究科
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概要
関連著者
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藤原 秀雄
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
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大竹 哲史
奈良先端科学技術大学院大学,情報科学研究科
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大竹 哲史
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科:科学技術振興機構 Crest
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大竹 哲史
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科
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井上 美智子
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科
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井上 美智子
奈良先端科学技術大学院大学
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井上 美智子
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科:科学技術振興機構crest
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井上 美智子
奈良先端科学技大学院大学
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永井 慎太郎
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科
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和田 弘樹
株式会社日立製作所中央研究所システムlsi研究部
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和田 弘樹
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
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吉川 祐樹
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科
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吉川 祐樹
奈良先端科学技術大学院大学, 情報科学研究科
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米田 友和
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科
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藤原 秀雄
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科
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岩田 浩幸
奈良先端科学技術大学院大学
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増澤 利光
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科
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中里 昌人
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
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米田 友和
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科:科学技術振興機構crest
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米田 友和
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
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米田 友和
奈良先端科学技大学院大学
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岩田 大志
奈良先端科学技術大学院大学,情報科学研究科
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岩田 大志
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科:科学技術振興機構 Crest
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高橋 智也
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科
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神戸 和子
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
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山形 信博
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
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高崎 智也
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
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植本 雄一
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科
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池田 直嗣
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科
著作論文
- C素子スキャンパスを用いた非同期式順序回路に対する完全スキャン設計法(設計/テスト/検証)
- 非パイプラインプロセッサの命令レベル自己テストのためのテスト容易化設計(上流DFT,VLSI設計とテスト及び一般)
- 組合せテスト生成複雑度でテスト生成可能な順序回路構造とその応用
- 完全故障検出効率を保証するRTLデータパスの部分強可検査性に基づくテスト容易化設計法(半導体テスト,ディペンダブルコンピューティング論文)
- 完全故障検出効率を保証するデータパスの部分強可検査設計
- 完全故障検出効率を保証するデータパスの部分強可検査設計(上流 DFT, VLSI 設計とテスト及び一般)
- RTLパス数最小化のためのリソースバインディング法(スキャンテスト・テスト容易化高位合成,VLSI設計とテスト及び一般)
- 単一端子変化遅延テストに基づくデータパスのテスト容易化設計
- 単一端子変化遅延テストに基づくデータパスのテスト容易化設計(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
- 単一端子変化遅延テストに基づくデータパスのテスト容易化設計(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 単一端子変化遅延テストに基づくデータパスのテスト容易化設計(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 単一端子変化遅延テストに基づくデータパスのテスト容易化設計(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 固定制御可検査性に基づくRTL回路の非スキャンテスト容易化設計法
- 固定制御可検査性に基づくRTL回路の非スキャンテスト容易化設計法
- 固定制御可検査性に基づくRTL回路の非スキャンテスト容易化設計法
- 固定制御可検査性に基づくRTL回路の非スキャンテスト容易化設計法
- 完全故障検出効率を保証するレジスタ転送レベルでの非スキャンテスト容易化設計法
- 完全故障検出効率を保証するレジスタ転送レベルでの非スキャンテスト容易化設計法
- 完全故障検出効率を保証するレジスタ転送レベルでの非スキャンテスト容易化設計法
- テスト実行時間削減のためのデータパスの強可検査性に基づくテスト容易化設計法
- レジスタ転送レベルでのデータフロー依存型回路の階層テスト容易化設計法(システムLSIの設計技術と設計自動化)
- 拡張データフローグラフを用いたRTレベルデータパスの階層テスト容易化設計法
- 拡張データフローグラフを用いたRTレベルデータパスの階層テスト容易化設計法
- 拡張データフローグラフを用いたRTレベルデータパスの階層テスト容易化設計法
- 機能等価性情報を用いたRTL-GLパスマッピングの一手法(高位合成及び検証,信号処理,LSI,及び一般)
- 高位合成情報を用いたRTLフォールスパス判定(上流テスト・テスト圧縮,VLSI設計とテスト及び一般)
- プロセッサの命令レベル自己テストのためのテスト容易化設計(集積回路技術とアーキテクチャ技術の協調・融合へ向けた,プロセッサ,並列処理,システムLSIアーキテクチャ及び一般)
- プロセッサの命令レベル自己テストのためのテスト容易化設計(集積回路技術とアーキテクチャ技術の協調・融合へ向けた,プロセッサ,並列処理,システムLSIアーキテクチャ及び一般)