固定制御可検査性に基づくRTL回路の非スキャンテスト容易化設計法
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概要
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本稿では, レジスタ転送レベル回路を対象としたテスト容易化設計法を提案する.対象回路は、コントローラ, データパスおよびそれらを接続する内部接続線で構成される.提案手法では, 内部接続線を疑似外部入出力として, コントローラとデータパスそれぞれに対してテスト容易化設計およびテスト生成を行う.コントローラに対するテスト容易化設計では, 既発表の我々のテスト容易化設計法を用いる.データパスに対するテスト生成は, 階層テスト生成法に基づき, 回路中の各組合せ回路要素に対してテストプランを生成する.また, データパスのテスト容易化設計では固定制御可検査性を導入する.固定制御可検査性とは, 各組合せ回路要素に対するテストプランでの正当化 / テスト / 伝搬の3つのフェーズにおける制御ベクトル系列を1個の制御ベクトルで構成可能な回路の性質をいい, その性質に基づくデータパスのテスト容易化設計法を提案する.これにより, データパスに対して付加するテストプラン生成回路の構成を組合せ回路で実現できる.また実験結果により提案手法の有効性を示す.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2000-01-12
著者
-
藤原 秀雄
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
-
大竹 哲史
奈良先端科学技術大学院大学,情報科学研究科
-
大竹 哲史
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科:科学技術振興機構 Crest
-
和田 弘樹
株式会社日立製作所中央研究所システムlsi研究部
-
和田 弘樹
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
-
永井 慎太郎
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科
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