セキュアスキャン設計におけるシフトレジスタ等価回路の微分動作同値類について(システムと信号処理及び一般)
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概要
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セキュリティとテスタビリティは相反する性質であるが,それらを両立させることは重要である.セキュア(安全)でテスタブル(テスト容易)な回路設計が望まれている.筆者らは先に,シフトレジスタ等価回路を利用した安全でかつテスト容易なスキャン設計法を提案し^<[11]>,いくつかの線形回路構造を対象にシフトレジスタ等価回路族の濃度を明らかにした^<[12-13]>.本稿では,組合せ回路側からのスキャンベース攻撃を考察するために,シフトレジスタ等価回路から成る拡張スキャン回路モデルを導入し,微分動作攻撃を防御する方法として,ダミーフリップフロップを利用したシフトレジスタ等価スキャン回路を提案する.それらのセキュリティレベルを明らかにするために,シフトレジスタ等価メキャン回路に対して微分動作同値関係を導入し,いくつかの線形回路構造を対象にそれらの同値類の個数や濃度を考察する.
- 2010-06-14
著者
-
玉本 英夫
秋田大学工学資源学部情報工学科
-
藤原 秀雄
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
-
藤原 秀雄
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科
-
藤原 克哉
秋田大学工学資源学部情報工学科
-
藤原 克哉
秋田大学大学院工学資源学研究科情報工学専攻
-
玉本 英夫
秋田大学大学院工学資源学研究科
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