動作記述を用いた順序テスト生成およびテスト容易化バインディング(高位設計2,デザインガイア2010-VLSI設計の新しい大地-)
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概要
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順序回路に対して多くのテスト生成アルゴリズムが提案されているが,組合せ回路に対するテスト生成と比べ困難な問題であり,現実的な時間で高い故障検出率を達成することが困難である.テスト生成時間をより高速にするために,ゲートレベルでなく設計上流から動作記述や機能記述レジスタ転送レベル回路(機能記述RTL回路)情報を用いたテスト生成法が提案されている.具体的には,動作記述や機能記述RTL回路を割当決定図(Assignment Decision Diagram: ADD)で表現したものを対象にテスト系列を生成する手法が提案されている.しかしながら,これらの手法はバインディングを考慮しておらず,たとえテスト環境生成率が高いとしても,生成したテスト系列でゲートレベル回路に対して高い故障検出率を得られる保証はない.本論文は,バインディングを考慮することで従来手法と比較して高い故障検出率を達成する手法を提案する.
- 2010-11-22
著者
-
藤原 秀雄
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
-
藤原 秀雄
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科
-
細川 利典
日本大学生産工学部
-
井上 諒一
日本大学大学院生産工学研究科
-
藤原 浩顕
日本大学大学院生産工学研究科
-
藤原 秀雄
日本大学生産工学部
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