テスト長制約下での欠陥検出率向上のための状態可観測なFSMのテスト生成法(上流テスト・テスト圧縮,VLSI設計とテスト及び一般)
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概要
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我々は,オーバーテストやアンダーテストを抑制するために,状態可観測な状態遷移機械(FSM)の論理故障テストやタイミング故障テストに対する故障非依存テスト生成法と故障依存テスト生成法を提案した.故障非依存テスト生成法で生成されたテスト系列は,すべての論理故障やタイミング故障を検出できるのでテスト品質が非常に高い.しかしながら,FSMの状態遷移数が多いと,そのテスト系列長は長くなる.一方,故障依存テスト生成法で生成されたテスト系列は,指定された故障モデルに対しては,テスト可能な故障はすべて検出することができるが,他の故障モデルに対する故障検出率は高いとはいえない.本論文では,状態可観測なFSMを対象に,限られたテスト長下で指定された故障モデルに対して,テスト可能な故障はすべて検出し,他の主要な故障モデルに対して高い故障検出率を得るためのテスト生成法を提案する.MCNC'91ベンチマーク回路に対して,本手法のブリッジ故障検出率,遷移故障検出率,統計的遅延品質モデルについて評価し,縮退故障依存テスト生成法と比較して,その有効性を示す.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2008-02-01
著者
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