無閉路部分スキャン設計に基づくデータパスのテスト容易化高位合成におけるバインディング手法
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
本論文では, 無閉路構造に基づく部分スキャン設計のための, データパスのテスト容易化高位合成手法を提案する.スケジュールされた動作記述(データフローグラフ)に対して, 面積(リソース数)の最小性を満たしながら, 無閉路化のためのスキャンレジスタ数を最小にする演算器とレジスタのバインディング法を提案する.本手法は, テスト容易性を考慮しない従来手法と比較して, リソース数を増やすことなく, 無閉路化のためのスキャンレジスタ数の小さいレジスタ転送レベルデータパスを合成することができる.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2000-02-25
著者
関連論文
- 両性人口モデルにおける反応拡散方程式を用いた人口分布の表現について
- セキュアスキャン設計におけるシフトレジスタ等価回路の微分動作同値類について (コンカレント工学)
- セキュアスキャン設計におけるシフトレジスタ等価回路の微分動作同値類について (信号処理)
- セキュアスキャン設計におけるシフトレジスタ等価回路の微分動作同値類について (VLSI設計技術)
- セキュアスキャン設計におけるシフトレジスタ等価回路の微分動作同値類について (回路とシステム)
- 部分スルー可検査性に基づく順序回路のテスト生成法(ディペンダブルコンピューティング)
- 共有メモリシステムにおける調停木スキップ相互排除アルゴリズム
- マルチクロック・ドメイン・コアテストのための再構成可能ラッパーの一構成法(テスト容易化設計,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
- マルチクロック・ドメイン・コアテストのための再構成可能ラッパーの一構成法(テスト容易化設計,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地-)
- セキュアスキャン設計のためのシフトレジスタ等価回路の列挙と合成
- 内蔵プロセッサを利用したマイクロコントローラのテスト高速化に関する考察
- マルチメディアコアの展開機能を利用したテストデータ圧縮・展開(デザインガアイ2006-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
- マルチメディアコアの展開機能を利用したテストデータ圧縮・展開(VLSIのテストI,デザインガイア2006-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
- テスト圧縮・展開手法におけるバッファ付き展開器について(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
- テスト展開器のオーバヘッド削減のためのテストベクトルの並べ替えについて(VLSI設計とテスト)
- ハフマン符号に基づくテスト実行のためのテスト圧縮について
- ハフマン符号を用いたテスト応答圧縮について
- 故障の許容性に基づく閾値テスト生成のための回路モデル(安全性及び一般)
- BISTにおける高品質遅延故障テストのためのシード選択法(遅延故障テスト,VLSI設計とテスト及び一般)
- セキュアスキャン設計のためのシフトレジスタ等価回路の列挙と合成(ディペンダブルコンピューティング)
- マルチクロック・ドメイン・コアテストのための再構成可能ラッパーの一構成法(テスト容易化設計,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
- 学究活動に不可欠になったキャンパスネットワーク構築の一事例
- 学究活動に不可欠になったキャンパスネットワーク構築の一事例
- ロバストテスト可能データパスを指向した高位合成におけるバインディング法(設計/テスト/検証)
- スイッチの機能を考慮した部分スルー可検査性に関する考察(設計/テスト/検証)
- セキュアスキャン設計におけるシフトレジスタ等価回路の微分動作同値類について(システムと信号処理及び一般)
- セキュアスキャン設計におけるシフトレジスタ等価回路の微分動作同値類について(システムと信号処理及び一般)
- CAS2010-6 セキュアスキャン設計におけるシフトレジスタ等価回路の微分動作同値類について(システムと信号処理及び一般)
- セキュアスキャン設計におけるシフトレジスタ等価回路の微分動作同値類について(システムと信号処理及び一般)
- C素子スキャンパスを用いた非同期式順序回路に対する完全スキャン設計法(設計/テスト/検証)
- マルチメディアコアの展開機能を利用したテストデータ圧縮・展開(VLSIのテストI,デザインガイア2006-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
- AI-1-7 フィールド高信頼化のための回路・システム機構(AI-1.デイベンダブルVLSIに向けて,依頼シンポジウム,ソサイエティ企画)
- ディジタルフィルタにおける故障の許容性に関する考察(故障モデル・故障許容・故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
- SRAM型FPGAによる故障状況に適応可能な漸次縮退システムの実装(ディペンダブル設計,FPGA応用及び一般)
- SRAM型FPGAによる故障状況に適応可能な漸次縮退システムの実装(ディペンダブル設計,FPGA応用及び一般)
- SRAM型FPGAによる故障状況に適応可能な漸次縮退システムの実装(ディペンダブル設計,FPGA応用及び一般)
- テスト容易性と救済可能性を考慮した歩留まりモデルに関する考察(テストI,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地)
- テスト容易性と救済可能性を考慮した歩留まりモデルに関する考察(テストI,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地-)
- 閾値テストのための5値論理に基づくテスト生成アルゴリズムに関する考察(設計/テスト/検証,設計/テスト/検証)
- 組込み自己テストにおけるテスト可能な応答圧縮器の設計について(ディペンダブルコンピュータシステムとセキュリティ技術及び一般)
- 組込み自己テストにおけるテスト可能な応答圧縮器の設計について(ディペンダブルコンピュータシステムとセキュリティ技術及び一般)
- D-10-15 非可逆性を持つ画像圧縮アルゴリズムを利用したテストデータ圧縮・展開法(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
- 故障の許容性に基づくテスト生成アルゴリズムの高速化(テスト生成,VLSI設計とテスト及び一般)
- 伝搬支配性に着目した遅延テストのためのハイブリッドスキャン設計(テスト容易化設計,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
- テストデータ削減のための必須割当に基づくテストポイント挿入法(テスト容易化設計,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
- 状態並列に基づく順序回路テスト生成の並列処理について
- 安定後の1故障を考慮したリングでの自己安定相互排除プロトコル
- 安定後の1故障を考慮したリングでの自己安定相互排除プロトコル
- テスト圧縮・展開手法におけるバッファ付き展開器について(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
- ハフマン符号を用いたテスト応答圧縮について
- ハフマン符号を用いたテスト応答圧縮について
- 直交順序を保存する方形の最小面積非交差再配置問題
- 直交順序を保存する矩形の非交差再配置問題について
- 動作記述を用いた順序テスト生成およびテスト容易化バインディング(高位設計2,デザインガイア2010-VLSI設計の新しい大地-)
- 動作記述を用いた順序テスト生成およびテスト容易化バインディング(高位設計2,デザインガイア2010-VLSI設計の新しい大地-)
- 非パイプラインプロセッサの命令レベル自己テストのためのテスト容易化設計(上流DFT,VLSI設計とテスト及び一般)
- 縮退故障とパス遅延故障のためのプロセッサの命令レベル自己テスト法(LSIのテスト・診断技術論文)
- パイプラインプロセッサ自己テストのための命令テンプレート生成(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
- パイプラインプロセッサ自己テストのための命令テンプレート生成(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- パイプラインプロセッサ自己テストのための命令テンプレート生成(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- パイプラインプロセッサ自己テストのための命令テンプレート生成(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- プロセッサ自己テストのためのコントローラ入力時相空間制約(VLSI設計とテスト)
- データフローを考慮したプロセッサ自己テストのためのテンプレート生成(VLSI設計とテスト)
- 画像伸張回路を用いた組込みテスト生成に関する実験的考察(テスト設計1,デザインガイア2010-VLSI設計の新しい大地-)
- 画像伸張回路を用いた組込みテスト生成に関する実験的考察(テスト設計1,デザインガイア2010-VLSI設計の新しい大地-)
- テストデータ削減のための必須割当に基づくテストポイント挿入法(テスト容易化設計,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
- 伝搬支配性に着目した遅延テストのためのハイブリッドスキャン設計(テスト容易化設計,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
- テストデータ削減のための必須割当に基づくテストポイント挿入法(テスト容易化設計,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地-)
- 分散移動システムにおけるスナップショット・アルゴリズム
- SREEP : SR等価回路を用いたセキュアスキャン設計支援ツール(テスト設計2,デザインガイア2010-VLSI設計の新しい大地-)
- SREEP : SR等価回路を用いたセキュアスキャン設計支援ツール(テスト設計2,デザインガイア2010-VLSI設計の新しい大地-)
- BISTの故障を考慮した故障検出率と市場不良率の関係(ディペンダブルソフトウェアとネットワーク及び一般)
- PD-3-5 組合せテスト生成複雑度と非スキャンテスト容易化設計法
- 選択問題を解くBSPモデル及びBSP^*モデル上の並列アルゴリズム
- 2値画像上の全最近点を求めるBSPモデル上の並列アルゴリズム
- CGMモデル及びBSPモデル上で選択及びソートを行う並列アルゴリズム
- CGMモデル及びBSPモデル上で選択及びソートを行う並列アルゴリズム
- CGMモデル及びBSPモデル上で選択及びソートを行う並列アルゴリズム(並列・分散)
- 選択問題を解くBSPモデルおよびBSPモデル上の並列アルゴリズム
- マルチサイクル故障に耐性を持つデータパスのためのバインディング法(高位設計1,デザインガイア2010-VLSI設計の新しい大地-)
- マルチサイクル故障に耐性を持つデータパスのためのバインディング法(高位設計1,デザインガイア2010-VLSI設計の新しい大地-)
- 故障推定機能を利用した永久故障に耐性のある自己安定プロトコル
- テスト実行時の温度均一化のためのテストパターン並び替え法(Iddqテスト・温度均一化,VLSI設計とテスト及び一般)
- RC-010 組込み自己テストにおける救済可能テスト生成器(C分野:ハードウェア・アーキテクチャ,査読付き論文)
- RC-001 論理合成における面積・遅延最適化のためのフォールスパスの活用について(C分野:ハードウェア・アーキテクチャ,査読付き論文)
- 無閉路部分スキャン設計に基づくデータパスのテスト容易化高位合成におけるバインディング手法
- 無閉路部分スキャン設計を指向したデータパスのテスト容易化高位合成
- マルチメディアコアの展開機能を利用したテストデータ圧縮・展開
- 無閉路部分スキャン設計を指向した高位合成におけるスケジューリングについて
- 無閉路部分スキャン設計を指向した高位合成におけるスケジューリングについて
- 無閉路部分スキャン設計を指向した高位合成におけるスケジューリングについて
- 単一縮退故障用組合せテスト生成アルゴリズムを用いた無閉路順序回路のテスト生成
- 単一縮退故障用組合せテスト生成アルゴリズムを用いた無閉路順序回路のテスト生成
- 単一縮退故障用組合せテスト生成アルゴリズムを用いた無閉路順序回路のテスト生成
- ホールド機能を考慮した順序回路の部分スキャン設計法
- SRAM型FPGAによる故障状況に適応可能な漸次縮退システムの実装
- SRAM型FPGAによる故障状況に適応可能な漸次縮退システムの実装
- FPGAを用いた耐故障システムの信頼性と性能に関する考察(ディペンダブルコンピューティングシステム及び一般)
- FPGAを用いた耐故障システムの信頼性と性能に関する考察(ディペンダブルコンピューティングシステム及び一般)
- LSIテストにおける再構成可能な埋込み展開器について(設計手法と高性能化, リコンフィギャラブルシステム, 一般)