伝搬支配性に着目した遅延テストのためのハイブリッドスキャン設計(テスト容易化設計,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
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概要
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遅延故障のテスト手法として,スキャンベースの遅延テストであるハイブリッド遅延テストが文献[1]で提案されている.ハイブリッド遅延テストは,一部のフリップフロップ(FF)をスキュードロードFF(SL-FF)として制御し,残りのFFをブロードサイドFF(BS-FF)として制御することができるハイブリッドスキャン設計により実現する.本研究では,ハイブリッド遅延テストにおける故障検出率の向上を目的として,FFの伝搬支配性に着目したSL-FF選択のためのヒューリスティック尺度を提案し,それに基づくハイブリッドスキャン設計を行う.また,ハイブリッドスキャン設計された回路はブロードサイドテストも行えることに着目し,ハイブリッド遅延テストと組み合わせた効率的なテスト実行法を述べる.実験では遷移故障の検出率を評価し,提案するSL-FF選択法の有効性を示す.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2008-11-10
著者
-
井上 智生
広島市立大学情報科学部
-
市原 英行
広島市立大学情報科学部
-
市原 英行
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
吉川 祐樹
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
井上 智生
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
怒和 友美
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
井上 智生
広島市立大学大学院 情報科学研究科
-
市原 英行
広島市立大学大学院 情報科学研究科
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