吉川 祐樹 | 広島市立大学大学院情報科学研究科
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概要
関連著者
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吉川 祐樹
広島市立大学大学院情報科学研究科
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市原 英行
広島市立大学大学院情報科学研究科
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井上 智生
広島市立大学大学院情報科学研究科
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井上 智生
広島市立大学情報科学部
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市原 英行
広島市立大学情報科学部
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井上 智生
広島市立大学大学院 情報科学研究科
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市原 英行
広島市立大学大学院 情報科学研究科
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藤恵 里司
広島市立大学大学院情報科学研究科
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野地 亮志
広島市立大学大学院情報科学研究科
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岡 伸也
広島市立大学大学院情報科学研究科
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平本 和子
広島市立大学大学院情報科学研究科
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藤恵 里司
広島市大 大学院情報科学研究科
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野地 亮志
広島市大 大学院情報科学研究科
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深澤 祐樹
広島市立大学大学院情報科学研究科
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怒和 友美
広島市立大学大学院情報科学研究科
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岩本 由香
広島市立大学大学院情報科学研究科
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森永 広介
広島市立大学大学院情報科学研究科
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天野 雄二郎
広島市立大学大学院情報科学研究科
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邊見 勇登
広島市立大学大学院情報科学研究科
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周藤 健太
広島市立大学大学院情報科学研究科
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中島 佑介
広島市立大学情報科学部
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丸谷 瞬
広島市立大学大学院情報科学研究科
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宮口 拓己
広島市立大学大学院情報科学研究科
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出水 伸和
広島市立大学大学院情報科学研究科
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林 紘之
広島市立大学大学院情報科学研究科
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志水 昂
広島市立大学大学院情報科学研究科
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三上 雄大
広島市立大学大学院情報科学研究科
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中島 佑介
広島市立大学大学院情報科学研究科
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塩道 寛貴
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
三上 雄大
広島市立大学大学院 情報科学研究科
著作論文
- 故障の許容性に基づく閾値テスト生成のための回路モデル(安全性及び一般)
- 画像伸張回路を用いた組込みテスト生成に関する実験的考察 (ディペンダブルコンピューティング)
- 画像伸張回路を用いた組込みテスト生成に関する実験的考察 (VLSI設計技術)
- マルチサイクル故障に耐性を持つデータパスのためのバインディング法 (ディペンダブルコンピューティング)
- マルチサイクル故障に耐性を持つデータパスのためのバインディング法 (VLSI設計技術)
- ロバストテスト可能データパスを指向した高位合成におけるバインディング法(設計/テスト/検証)
- スイッチの機能を考慮した部分スルー可検査性に関する考察(設計/テスト/検証)
- ディジタルフィルタにおける故障の許容性に関する考察(故障モデル・故障許容・故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
- SRAM型FPGAによる故障状況に適応可能な漸次縮退システムの実装(ディペンダブル設計,FPGA応用及び一般)
- SRAM型FPGAによる故障状況に適応可能な漸次縮退システムの実装(ディペンダブル設計,FPGA応用及び一般)
- SRAM型FPGAによる故障状況に適応可能な漸次縮退システムの実装(ディペンダブル設計,FPGA応用及び一般)
- テスト容易性と救済可能性を考慮した歩留まりモデルに関する考察(テストI,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地)
- テスト容易性と救済可能性を考慮した歩留まりモデルに関する考察(テストI,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地-)
- 閾値テストのための5値論理に基づくテスト生成アルゴリズムに関する考察(設計/テスト/検証,設計/テスト/検証)
- 組込み自己テストにおけるテスト可能な応答圧縮器の設計について(ディペンダブルコンピュータシステムとセキュリティ技術及び一般)
- 組込み自己テストにおけるテスト可能な応答圧縮器の設計について(ディペンダブルコンピュータシステムとセキュリティ技術及び一般)
- D-10-15 非可逆性を持つ画像圧縮アルゴリズムを利用したテストデータ圧縮・展開法(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
- 故障の許容性に基づくテスト生成アルゴリズムの高速化(テスト生成,VLSI設計とテスト及び一般)
- 伝搬支配性に着目した遅延テストのためのハイブリッドスキャン設計(テスト容易化設計,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
- テストデータ削減のための必須割当に基づくテストポイント挿入法(テスト容易化設計,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
- 演算規則を用いたフォールトセキュアデータパスの合成について(フォールトセキュア・セキュリティ・2線2相回路のテスト,VLSI設計とテスト及び一般)
- 画像伸張回路を用いた組込みテスト生成に関する実験的考察(テスト設計1,デザインガイア2010-VLSI設計の新しい大地-)
- 画像伸張回路を用いた組込みテスト生成に関する実験的考察(テスト設計1,デザインガイア2010-VLSI設計の新しい大地-)
- テストデータ削減のための必須割当に基づくテストポイント挿入法(テスト容易化設計,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
- 伝搬支配性に着目した遅延テストのためのハイブリッドスキャン設計(テスト容易化設計,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
- テストデータ削減のための必須割当に基づくテストポイント挿入法(テスト容易化設計,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地-)
- マルチサイクル故障に耐性を持つデータパスのためのバインディング法(高位設計1,デザインガイア2010-VLSI設計の新しい大地-)
- マルチサイクル故障に耐性を持つデータパスのためのバインディング法(高位設計1,デザインガイア2010-VLSI設計の新しい大地-)
- RC-010 組込み自己テストにおける救済可能テスト生成器(C分野:ハードウェア・アーキテクチャ,査読付き論文)
- RC-001 論理合成における面積・遅延最適化のためのフォールスパスの活用について(C分野:ハードウェア・アーキテクチャ,査読付き論文)
- 伝搬支配性に着目した遅延テストのためのハイブリッドスキャン設計(テスト容易化設計,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地-)
- 無閉路可検査性に基づくテスト生成のための最適スルー木集合構成法(テストと検証,デザインガイア2007-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 無閉路可検査性に基づくテスト生成のための最適スルー木集合構成法(テストと検証,デザインガイア2007-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 無閉路可検査性に基づくテスト生成のための最適スルー木集合構成法(テストと検証,デザインガイア2007-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- SRAM型FPGAによる故障状況に適応可能な漸次縮退システムの実装
- SRAM型FPGAによる故障状況に適応可能な漸次縮退システムの実装
- FPGAを用いた耐故障システムの信頼性と性能に関する考察(ディペンダブルコンピューティングシステム及び一般)
- FPGAを用いた耐故障システムの信頼性と性能に関する考察(ディペンダブルコンピューティングシステム及び一般)
- 画像伸張回路を用いた組込みテスト生成に関する実験的考察
- C-015 必須割当情報に基づくテストデータ削減のためのテストポイント挿入法(ハードウェア・アーキテクチャ,一般論文)