故障の許容性に基づくテスト生成アルゴリズムの高速化(テスト生成,VLSI設計とテスト及び一般)
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概要
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回路中の故障がアプリケーションの出力に重大な影響を与えないとき,その故障を許容故障という.文献[3]では,与えられた閾値に対して閾値を越える誤りを出力する故障を非許容故障(許容できない故障)と考え,非許容故障のみを検出するテストパターンを生成するための閾値テスト生成アルゴリズムを提案している.この手法では,一般のテスト生成アルゴリズムとは違って外部出力における誤りの大きさを高精度で表現するために,16値論理を用いる.そのため,回路によっては限られた時間で高い故障検出効率を得られないことがある.本研究では,文献[3]の閾値テスト生成アルゴリズムの高速化について考察する.閾値テスト生成アルゴリズムがベースにするPODEMアルゴリズムの故障伝搬に関する性質と,非許容故障を検出するための十分条件に着目し,故障信号伝搬のための3つのヒューリスティックを提案する.ISCAS'85ベンチマークを用いた実験結果により提案法の有効性を示す.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2009-02-09
著者
-
井上 智生
広島市立大学情報科学部
-
市原 英行
広島市立大学情報科学部
-
市原 英行
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
吉川 祐樹
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
中島 佑介
広島市立大学情報科学部
-
井上 智生
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
中島 佑介
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
井上 智生
広島市立大学大学院 情報科学研究科
-
市原 英行
広島市立大学大学院 情報科学研究科
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