テスト数制限下でのテスト入力集合の選択手法について (テストと設計検証論文特集)
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概要
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テスト生成の研究では, テスト時間を短縮するためにより小さいテスト集合を得ることが重要な目標の一つとなっている. 本論文では, テスト数が上限をもつ条件下でのテスト手法について考察する. テスト数が制限されているときには, 検出可能な故障をすべて検出するために十分なテストを生成できないため, 代表故障を対象としたテスト選択と全故障を対象としたテスト選択では故障検出率に差が生じ, 得られるテスト集合の評価に影響を及ぼす. この問題に対して, ここでは, 重み付き故障リストを用いてテストを選択することにより, テスト数が制限されている条件下で高い故障検出率をもつテスト集合を得る方法を提案している. ブリッジ故障を対象としたIDDQテストに対する実験結果により, 提案したテスト選択手法の有効性を示している.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1999-07-25
著者
-
梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科
-
市原 英行
広島市立大学情報科学部
-
梶原 誠司
九州工業大学:jst Crest
-
樹下 行三
大阪大学工学部応用物理学科
-
樹下 行三
大阪学院大 情報
-
樹下 行三
大阪大学工学部
-
市原 英行
大阪大学工学研究科応用物理学専攻
-
梶原 誠司
九州工業大学
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