低消費電力テストのための制約付テスト生成手法について
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概要
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- 2007-01-11
著者
-
梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科
-
温 暁青
九州工業大学
-
大和 勇太
九州工業大学大学院情報工学研究院
-
宮瀬 紘平
九州工業大学:jst Crest
-
温 暁青
九州工業大学:jst Crest
-
鈴木 達也
九州工業大学情報工学部
-
梶原 誠司
九州工業大学:jst Crest
-
塔ノ上 義章
九州工業大学情報工学部
-
宮瀬 紘平
科学技術振興機構
-
Kajihara S
Kyushu Inst. Technol. Iizuka‐shi Jpn
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