実速度スキャンテストベクトルに対する遷移タイミング考慮キャプチャ安全性判定(低消費電力テスト・メモリテスト,VLSI設計とテスト及び一般)
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概要
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実速度スキャンテストにおけるキャプチャ時の過渡な消費電力は,LSIテスト時にタイミングのエラーを引き起こし,歩留り低下の原因となる.そのため,テストベクトルに対して正確にキャプチャ安全性判定を行い,歩留り低下の原因となる危険なテストベクトルを判別することが重要である.本研究では,論理回路中の各ゲートで起こる遷移のタイミングを考慮したTTR(Transition-Time-Relation)キャプチャ安全性判定手法を提案する.実験結果では,TTRを用いることでキャプチャ安全性判定の正確性が向上することを示す.
- 2011-02-07
著者
-
宮瀬 紘平
九州工業大学
-
温 暁青
九州工業大学
-
大和 勇太
九州工業大学大学院情報工学研究院
-
宮瀬 紘平
九州工業大学:jst Crest
-
梶原 誠司
九州工業大学:jst Crest
-
古川 寛
九州工業大学大学院情報工学研究院
-
梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化システムセンター
-
梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化総合技術センタ
-
Kajihara S
Kyushu Inst. Technol. Iizuka‐shi Jpn
-
Kajihara Seiji
Faculty Of Computer Science And Systems Engineering Kyushu Institute Of Technology
-
坂井 僚太
九州工業大学大学院
-
宮瀬 絋平
九州工業大学大学院
-
麻生 正雄
ルネサスマイクロシステム株式会社
-
古川 寛
ルネサスマイクロシステム株式会社
-
大和 勇太
福岡県産業・科学技術振興財団
-
梶原 誠司
九州工業大学
-
宮瀬 絋平
九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系:独立行政法人科学技術振興機構crest
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