フィールドテストのための温度・電圧推定回路の試作評価(ばらつき・フィールドテスト,VLSI設計とテスト及び一般)
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概要
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VLSIの組み込まれたシステムには高いディペンダビリティが要求されるものもある.VLSIの高機能化や高性能化,製造プロセスの微細化に伴い,劣化等により生じるVLSIの故障を事前に検知し,障害発生による突然のシステムダウンを回避することが重要になっている.劣化現象として回路遅延の増加が知られているが,フィールドテストでの遅延測定では,VLSIの温度や電圧等の環境要因による遅延への影響を考慮する必要がある.本論文では,フィールドテスト時に温度・電圧を測定,環境要因の影響を排除した高精度な遅延測定を実現するため,リングオシレータを核とする温度・電圧推定回路の試作と,試作した温度・電圧推定回路から得られる温度・電圧変化特性の測定および評価に関する関して述べる.
- 2012-02-06
著者
-
佐藤 康夫
九州工業大学
-
宮瀬 紘平
九州工業大学
-
三浦 幸也
首都大学東京
-
宮瀬 紘平
九州工業大学:jst Crest
-
梶原 誠司
九州工業大学:jst Crest
-
佐藤 康夫
九州工業大学:jst Crest
-
梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化システムセンター
-
梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化総合技術センタ
-
Kajihara S
Kyushu Inst. Technol. Iizuka‐shi Jpn
-
Kajihara Seiji
Faculty Of Computer Science And Systems Engineering Kyushu Institute Of Technology
-
梶原 誠司
九州工業大学
-
宮瀬 絋平
九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系:独立行政法人科学技術振興機構crest
-
三宅 庸資
九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻
-
三浦 幸也
首都大学東京システムデザイン学部情報通信システム工学コース:独立行政法人科学技術振興機構crest
-
三宅 庸資
九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構CREST
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