フィールドテストのための温度・電圧モニタ回路構成の検討(テスト,デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-)
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概要
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システムの信頼性の確保のために,フィールドでのLSIの劣化による回路遅延の増加を,障害の発生する前に検知する必要がある.LSIの劣化は,フィールドでの回路の遅延値を繰り返し測定することで,検知が可能と考えられる.しかし測定される遅延値は,温度や電圧等のシステムの動作環境によって大きく変動するため,これらの環境要因による量を把握し,測定遅延値から劣化遅延成分のみを取り出す必要がある.この温度と電圧は,チップ内に配置した複数種類のリングオシレータの周波数から推定する方法が提案されている.本研究は,温度と電圧の推定精度向上のために,リングオシレータの回路構成と最適な組み合わせ方法を検討する.
- 2012-11-19
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