複数の観測トランジスタとデータサンプリングを使用したアナログ回路の診断(アナログ・ばらつき・電流テスト,VLSI設計とテスト及び一般)
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概要
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アナログ回路の故障診断法として、X-Yゾーン法と動作領域モデルを併用した故障診断法が提案されている。X-Yゾーン法は、回路の入出力特性を利用して故障を検出するアナログ回路の故障検出法であり、動作領域モデルは、MOSトランジスタの動作領域を利用して回路をモデル化する方法である。本論文では、X-Yゾーン法と動作領域モデルを併用した診断法を拡張した診断方法として、複数個の観測トランジスタを使用する診断法と、複数のデータサンプリングを行う診断法を提案する。提案した方法について、ITC'97の2つのベンチマーク回路のソフト故障とハード故障を対象に診断シミュレーションを行い、提案法の有効性の評価を行った。その結果、診断分解能の向上と診断系列長、処理量の削減に効果があることを確認した。
- 2008-02-01
著者
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