三浦 幸也 | 首都大学東京システムデザイン学部

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概要

• 同名の論文著者
• 首都大学東京システムデザイン学部の論文著者

関連著者

• 三浦 幸也

  首都大学東京システムデザイン学部

• 三浦 幸也

  首都大学東京

• 三浦 幸也

  東京都立大学院工学研究科

• 三浦 幸也

  東京都立大学

• 梶原 誠司

  九州工業大学情報工学部電子情報工学科

• 吉田 たけお

  東京都立大学工学部

• 梶原 誠司

  九州工業大学:jst Crest

• 出崎 善久

  東京都立大学大学院工学研究科電気工学

• 梶原 誠司

  九州工業大学

• 三浦 幸也

  首都大学東京システムデザイン学部情報通信システム工学コース:独立行政法人科学技術振興機構crest

• 出崎 善久

  東京都立大学大学院工学研究科

• 岩崎 一彦

  東京都立大学大学院工学研究科

• 佐藤 康夫

  九州工業大学

• 宮瀬 紘平

  九州工業大学

• 温 暁青

  九州工業大学

• 宮瀬 紘平

  九州工業大学:jst Crest

• 温 暁青

  九州工業大学:jst Crest

• 佐藤 康夫

  九州工業大学:jst Crest

• 梶原 誠司

  九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化システムセンター

• 梶原 誠司

  九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化総合技術センタ

• Kajihara S

  Kyushu Inst. Technol. Iizuka‐shi Jpn

• Kajihara Seiji

  Faculty Of Computer Science And Systems Engineering Kyushu Institute Of Technology

• 宮瀬 絋平

  九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系:独立行政法人科学技術振興機構crest

• 貴家 仁志

  東京都立大学大学院工学研究科

• 大谷 知行

  東京都立大学工学部

• 鈴木 晋

  東京都立大学工学都電子・情報工学科

• 貴家 仁志

  東京都立大学 工学部

• 野田 光政

  九州工業大学大学院情報工学府

• 貴家 仁志

  東京都立大学

• 加藤 二郎

  首都大学東京大学院システムデザイン研究科

• 横田 大輔

  東京都立大学大学院工学研究科

• 大川 善大

  首都大学東京大学院システムデザイン研究科

• 藤原 秀雄

  奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科

• 藤原 秀雄

  奈良先端科学技術大学院大学:独立行政法人科学技術振興機構

• 宮瀬 鉱平

  九州工業大学大学院情報工学研究院

• 原口 雅史

  九州工業大学大学院情報工学研究院

• 後藤 啓之

  千葉大学 工学部 情報工学科

• 後藤 啓之

  千葉大学 工学部

• 梶原 誠司

  九州工業大学:独立行政法人科学技術振興機構

• 横田 大輔

  束京都立大学

• 山崎 善久

  束京都立大学

• 三浦 幸也

  束京都立大学

• 岩崎 一彦

  束京都立大学

• 石井 大樹

  東京都立大学大学院工学研究科電気系専攻

• 竹鼻 匡央

  独立行政法人科学技術振興機構,CREST

• 竹鼻 匡央

  独立行政法人科学技術振興機構 Crest

• 原口 雅史

  九州工業大学大学院 情報工学研究院

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著作論文

• 周期信号の自己訂正法(アナログ・ばらつき・電流テスト,VLSI設計とテスト及び一般)
• ADRによるバス上の多重縮退故障のマスク
• 誤り処理要素を特定可能なFFTの効果的構成法
• 劣化検知テストにおけるパス選択について(テストII,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地)
• 劣化検知テストにおけるパス選択について(テストII,デザインガイア2009-VLSI設計の新しい大地-)
• AI-1-7 フィールド高信頼化のための回路・システム機構(AI-1.デイベンダブルVLSIに向けて,依頼シンポジウム,ソサイエティ企画)
• 論理回路の動作環境とトランジスタの劣化特性について(設計/テスト/検証)
• 複数の観測トランジスタとデータサンプリングを使用したアナログ回路の診断(アナログ・ばらつき・電流テスト,VLSI設計とテスト及び一般)
• オンライン故障診断可能なFFTシステムの構成法
• 時間冗長方式と巡回符号を用いたバス上の多重縮退故障のマスク
• インターネットチェックサムの2重, 3重誤り検出能力
• TCP/IPチェックサムの2重誤り検出能力について
• ローカルエリアネットワークにおけるパケット多重通信の一実験
• 論理合成組合せ回路に対するLFSRによるテスト長
• D-10-11 VLSIのトランジスタ劣化特性に関する考察(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
• ノイズパルスを考慮したデュアルエッジトリガフリップフロップの提案(ディペンダブル・回路・検証,VLSI設計とテスト及び一般)
• ディジタル回路の適応検査を応用したアナログ回路の故障診断(セッション5 : アナログ回路テスト, VLSI設計とテスト及び一般)
• 2重クロックパルス法の実現とばらつき耐性の評価(セッション5 : アナログ回路テスト, VLSI設計とテスト及び一般)
• クロストークを考慮したクロック信号の生成・検出法の提案(欠陥ベーステスト,VLSI設計とテスト及び一般)
• デュアルエッジトリガフリップフロップの設計と信号遅延検知への応用(回路設計・ハードウェアトロイ設計,VLSI設計とテスト及び一般)
• デュアルエッジトリガフリップフロップの設計と信号遅延検知への応用

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