三浦 幸也 | 東京都立大学
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概要
関連著者
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三浦 幸也
東京都立大学
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三浦 幸也
東京都立大学院工学研究科
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三浦 幸也
首都大学東京 システムデザイン
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吉田 たけお
東京都立大学工学部
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三浦 幸也
首都大学東京システムデザイン学部
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出崎 善久
東京都立大学大学院工学研究科
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岩崎 一彦
東京都立大学大学院工学研究科
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出崎 善久
東京都立大学大学院工学研究科電気工学
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貴家 仁志
東京都立大学大学院工学研究科
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大谷 知行
東京都立大学工学部
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鈴木 晋
東京都立大学工学都電子・情報工学科
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貴家 仁志
東京都立大学 工学部
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貴家 仁志
東京都立大学
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山崎 博司
東京都立大学大学院 工学研究科
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三浦 幸也
東京都立大学工学部電子・情報工学科
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加藤 大輔
東京都立大学院工学研究科
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井上 直樹
東京電機大学大学院工学研究科
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後藤 啓之
千葉大学 工学部 情報工学科
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井上 直樹
東京都立大学大学院工学研究科
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後藤 啓之
千葉大学 工学部
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大村 寧
東京都立大学大学院工学研究科
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横田 大輔
東京都立大学大学院工学研究科
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鈴木 一哉
東京都立大学工学部
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石井 大樹
東京都立大学大学院工学研究科電気系専攻
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鈴木 一哉
NECシステムプラットフォーム研究所
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黒川 孝治
東京都立大学大学院工学研究科
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田原 洋平
東京都立大学大学院工学研究科
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勢能 修一
東京都立大学大学院工学研究科
著作論文
- 動作領域モデルを用いたアナログ回路の解析法
- ADRによるバス上の多重縮退故障のマスク
- 誤り処理要素を特定可能なFFTの効果的構成法
- オンライン故障診断可能なFFTシステムの構成法
- 時間冗長方式と巡回符号を用いたバス上の多重縮退故障のマスク
- インターネットチェックサムの2重, 3重誤り検出能力
- ADRを用いてバス上の多重縮退故障をマスクするためのベクトル集合の巡回符号による生成法
- 高階述語論理によるハードウェアの構造の形式的検証
- 時間冗長方式と誤り検出符号を用いたフォールトトレラント組合せ回路
- D-10-17 動作領域モデルを用いたディジタル回路の解析方法
- ローカルエリアネットワークにおけるパケット多重通信の一実験
- 論理合成組合せ回路に対するLFSRによるテスト長
- IDDQテスト用電流センサ回路
- 電流テストを用いたフリップフロップのテスタビリティ
- D-10-16 アナログ動作を考慮したディジタル回路の簡易CADシステムの開発
- 電流テストを用いたA-Dコンバータの実時間テスト
- 混在信号LSIに対する電流テスト用入力の比較解析
- ヒストグラム法を用いたA/Dコンバータのテスト
- X-Yゾーン法と動作領域モデルを併用したアナログ回路の故障診断(ディペンダブルコンピューティング)
- ランプ電圧印加による信号線オープン故障の検出(非縮退故障モデルテスト, VLSI 設計とテスト及び一般)
- D-10-19 Application of Operation-Region Model to Analog and Mixed-Signal LSI Testing
- D-10-18 内部フィードバックブリッジ故障の故障動作とテスト