IDDQテスト用電流センサ回路
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
IDDQテスト用の電流センサ回路を提案する。初期のIDDQテスト用のセンサ回路では抵抗性素子を用いていた。しかし、大きな異常電流が流れた場合にはセンサ回路による電圧降下が大きく、CUTに影響を与える。ダイオードあるいはダイオードとMOSFETの組合せにより、電圧降下を減らしたセンサ回路が提案されているが、ダイオードの閾値分の電圧降下が生じてしまう。本研究では、3種類の電源電圧でセンサ回路をドライブすることにより、電圧降下を抑えたセンサ回路を提案した。シミュレーションの結果は、提案したセンサ回路が電源電圧3.3Vの動作条件で、約17μAの異常電流を検出し、大きな異常電流に対してもセンサ回路による電圧降下を抑えることが可能であると示した。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1997-12-08
著者
関連論文
- 動作領域モデルを用いたアナログ回路の解析法
- ADRによるバス上の多重縮退故障のマスク
- 誤り処理要素を特定可能なFFTの効果的構成法
- オンライン故障診断可能なFFTシステムの構成法
- 時間冗長方式と巡回符号を用いたバス上の多重縮退故障のマスク
- インターネットチェックサムの2重, 3重誤り検出能力
- ADRを用いてバス上の多重縮退故障をマスクするためのベクトル集合の巡回符号による生成法
- 高階述語論理によるハードウェアの構造の形式的検証
- 時間冗長方式と誤り検出符号を用いたフォールトトレラント組合せ回路
- D-10-17 動作領域モデルを用いたディジタル回路の解析方法
- ローカルエリアネットワークにおけるパケット多重通信の一実験
- 論理合成組合せ回路に対するLFSRによるテスト長
- IDDQテスト用電流センサ回路
- 電流テストを用いたフリップフロップのテスタビリティ
- D-10-16 アナログ動作を考慮したディジタル回路の簡易CADシステムの開発
- 電流テストを用いたA-Dコンバータの実時間テスト
- 混在信号LSIに対する電流テスト用入力の比較解析
- ヒストグラム法を用いたA/Dコンバータのテスト
- X-Yゾーン法と動作領域モデルを併用したアナログ回路の故障診断(ディペンダブルコンピューティング)
- ランプ電圧印加による信号線オープン故障の検出(非縮退故障モデルテスト, VLSI 設計とテスト及び一般)
- D-10-19 Application of Operation-Region Model to Analog and Mixed-Signal LSI Testing
- D-10-18 内部フィードバックブリッジ故障の故障動作とテスト