動作領域モデルを用いたアナログ回路の解析法
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概要
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現在,多くの回路がMOSトランジスタによって構成されている.MOSトランジスタには線形領域,飽和領域,遮断領域の三つの動作領域が存在する.これらの動作領域の観測に基づいて回路をモデル化する方法を動作領域モデルと呼ぶ.動作領域モデルには回路構造に依存しないという利点があるため,アナログ回路,デジタル回路,デジアナ混載回路の全てに対して回路解析への適用が可能であると考えられる.本論文はこのうちのアナログ回路を対象とし,動作領域モデルを用いた回路解析法を検討する.本論文では動作領域モデルを用いたアナログ回路の解析法を提案し,この提案法をITCベンチマーク回路に適用する.また,動作領域モデルを用いた回路解析法をテストに応用する方法や,より効率の良い解析法についても検討する.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2003-02-14
著者
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