論理合成組合せ回路に対するLFSRによるテスト長
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概要
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被テスト回路にj個の検出困難故障(HDF)が存在する場合について, LFSRによって生成されるパターンのテスト長を理論的に解析した.その結果,次のことが明らかになった. 原始多項式が1個の場合, HDFが2,4,8個存在するとテスト長の期待値はそれそれ約1/4×周期,約1/2×周期,約2/3×周期になる. HDFが4個存在する場合テスト長の期待値が周期の1/4,1/2,3/4となる確率はそれそれ約0.05, 0.5, 1.0である.HDFが4個存在する場合, 1個の原始多項式ではテスト長の期待値が周期の約50%であるが,6個の原始多項式を候補とするとテスト長の期待値が周期の約30%となるものが得られる.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1997-02-13
著者
-
出崎 善久
東京都立大学大学院工学研究科
-
岩崎 一彦
東京都立大学大学院工学研究科
-
三浦 幸也
東京都立大学院工学研究科
-
後藤 啓之
千葉大学 工学部 情報工学科
-
後藤 啓之
千葉大学 工学部
-
出崎 善久
東京都立大学大学院工学研究科電気工学
-
三浦 幸也
首都大学東京システムデザイン学部
-
三浦 幸也
東京都立大学
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