ディレイ故障を検出するBIST用テストパターン発生回路
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概要
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擬似ランダムパターンテストの欠点である長いテスト長, を補う一つの手法として, ディレイ故障に対し短いテスト長で高い故障検出効率を達成するBIST用テストパターン発生回路(TPG)を提案する.提案TPGは1個のLFSR, 2個のシフトレジスタ, 少量のROM, マルチプレクサによって構成され, ROMにはATPGの部分列を格納する.ATPGベクトルの部分列とLFSRで発生した擬似ランダムベクトルを混在させたテストパターンを発生する.ランダムパターン検出困難故障をATPGベクトルの部分列によって検出するので, 短いテスト長で高い故障検出効率を達成できる.動作クロックごとにスキャインを行う必要がないため, 低速テスタを使用した実動作速度テストが可能である.提案手法をISCASベンチマーク回路に適用した場合のテスト長, 故障検出効率, ハードウェア量に関して評価し, 本手法の有効性を考察する.
- 2000-02-09
著者
-
岩崎 一彦
東京都立大学大学院工学研究科
-
梶原 誠司
九州工業大学:jst Crest
-
浅川 毅
東海大学
-
浅川 毅
東京都立大学工学研究科電気工学専攻
-
金本 直之
東京都立大学大学院工学研究科
-
梶原 誠司
九州工業大学
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